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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-02-18 15:30 楽観推定フィールドランダムテスタビリティ向上のための状態信号系列生成手法 ○廣瀬恭介・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2024-114 |
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| 抄録 | （和） | ミッションクリティカルなシステムに搭載されているVLSIは経年劣化による欠陥を検出するためにフィールドテストが必要とされる．電源オン/オフのような短い時間でVLSIを網羅的にテストするために非スキャンベースBIST手法が提案されている．レジスタ転送レベルでのテスタビリティ尺度としてコントローラに与えられた状態信号系列とデータパスの回路構造に基づいて計算される推定フィールドランダムテスタビリティが提案されている．しかしながら，与えられた状態信号系列において，データパスの動作を考慮していないため，推定フィールドランダムテスタビリティが十分に高くない可能性がある．本論文では，与えられた状態信号系列を用いてデータパスの動作を解析し，すべてのハードウェア要素に対して完全にテスト可能なテスト実行回数を満たす状態信号系列を生成する． |
| （英） | For VLSIs built in mission-critical systems, Field testing is required to detect defects due to aging. Non-scan-based BIST methods have been proposed to comprehensively test VLSIs in a short time such as power on/off. Estimated field random testability, which is calculated based on status signal sequences given to the controller and the circuit structures of data-paths, was proposed as a testability measure at register transfer level. However, the estimated field random testability might not be high enough because in a given status signal sequence, the behavior of data paths was not taken into account. In this paper, we analyze the behavior of data paths using a given status signal sequence and generate an additional status signal sequence that satisfies the test execution count required to completely test all hardware elements. | |
| キーワード | （和） | フィールドテスト / 組込み自己テスト / 楽観構造的記号シミュレーション / 状態信号系列 / 推定フィールドランダムテスタビリティ / / / |
| （英） | Field Testing / Built-In Self-Test / Optimistically Structural Symbolic Simulation / Status Signal Sequences / Estimated Field Random Testability / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 374, DC2024-114, pp. 47-52, 2025年2月. | |
| 資料番号 | DC2024-114 | |
| 発行日 | 2025-02-11 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2024-114 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2025-02-18 - 2025-02-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2025-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 楽観推定フィールドランダムテスタビリティ向上のための状態信号系列生成手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Status Signal Sequence Generation Method to Improve Optimistically Estimated Field Random Testability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | フィールドテスト / Field Testing |
| キーワード(2)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-In Self-Test |
| キーワード(3)（和/英） | 楽観構造的記号シミュレーション / Optimistically Structural Symbolic Simulation |
| キーワード(4)（和/英） | 状態信号系列 / Status Signal Sequences |
| キーワード(5)（和/英） | 推定フィールドランダムテスタビリティ / Estimated Field Random Testability |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 廣瀬 恭介 / Kyosuke Hirose / ヒロセ キョウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-02-18 15:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2024-114 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.374 |
| ページ範囲 | pp.47-52 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-02-11 (DC) |
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