| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2025-02-19 10:50
[招待講演]3Dフラッシュメモリのスケーラビリティと高信頼性を可能にするフッ素フリーワードラインモリブデンプロセスに関するシリコンテクノロジー研究集会レビュー ○福島 崇(キオクシア) SDM2024-72 |
| 抄録 |
(和) |
本報告は、3Dフラッシュメモリの垂直方向(Z方向)、水平方向(X-Y方向)、両方のスケーリングを可能とするフッ素フリーワードラインモリブデンプロセスを、2024 IEEE Symposium on VLSI Technology & Circuitsでの講演を基に紹介する。また、モリブデンリセスの最適化による過剰リセス改善、モリブデン埋め込み性の最適化によるVoid中残留酸素の除去とリーク不良改善、XYZ方向にスケーリングを行った際のワードラインタングステンに対するワードラインモリブデンの優位性について報告する。 |
| (英) |
A state-of-the-art fluorine-free word line (WL) molybdenum (Mo) process has been established for future 3D flash memory. Application of Mo to WLs can accelerate scaling of cells in both the vertical and horizontal directions with lower RC delay and lower leakage failure rates compared to traditional tungsten. In addition to being fluorine-free, key attributes of the process are optimization of Mo recess by innovated chemical and improvement of Mo filling to remove oxygen residue in Mo voids. These techniques can extend the scaling limit of 3D flash memory. |
| キーワード |
(和) |
フラッシュメモリ / ワードライン / モリブデン / / / / / |
| (英) |
flash memory / word line / molybdenum / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 124, no. 376, SDM2024-72, pp. 2-2, 2025年2月. |
| 資料番号 |
SDM2024-72 |
| 発行日 |
2025-02-12 (SDM) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
SDM2024-72 |