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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-03-06 16:35 ［招待講演］半導体テストシステムにおけるVNA測定機能回路の多チャンネル高集積化技術 ○君島正幸（アドバンテスト研）  MW2024-181 |
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| 抄録 | （和） | 半導体テストシステムにおけるVNA測定機能回路の集積マルチチャンネル化技術について述べる．計測性能のディレクティビティとダイナミックレンジに着目し，RFテスト用ベクトルネットワーク解析機能を満足するリフレクトメータSiPを実現するための構成とコア回路トポロジーを提案する．このリフレクトメータは従来のハイブリッド型リフレクトメータに比べ，1/50以下のサイズで，RFICの量産テストに適した性能を有する． |
| （英） | Technologies of the integrated multichannel for VNA measurement function circuits in semiconductor test systems are described. As primary concerns, focusing on the directivity and dynamic range of the reflect-meter performance, we propose the construction and the core circuit topologies to realize a very small reflect-meter SiP that satisfies functions of the vector network analysis for RF testing. The reflect-meter features a very small size of less than 1/50 compared to our conventional hybrid form reflect-meter with good performance for high volume RFIC testing. | |
| キーワード | （和） | VNA / リフレクトメータ / 半導体テストシステム / RFIC / / / / |
| （英） | VNA / reflect-meter / semiconductor test systems / RFIC / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 421, MW2024-181, pp. 70-75, 2025年3月. | |
| 資料番号 | MW2024-181 | |
| 発行日 | 2025-02-27 (MW) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2024-181 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2025-03-06 - 2025-03-07 |
| 開催地（和） | 大社文化プレイスうらら館 |
| 開催地（英） | Taisha Urara-kan Culrural Hall |
| テーマ（和） | マイクロ波⼀般 |
| テーマ（英） | Microwave, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2025-03-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 半導体テストシステムにおけるVNA測定機能回路の多チャンネル高集積化技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Highly integrated multi-channel technology for VNA measurement function circuits in semiconductor test systems |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | VNA / VNA |
| キーワード(2)（和/英） | リフレクトメータ / reflect-meter |
| キーワード(3)（和/英） | 半導体テストシステム / semiconductor test systems |
| キーワード(4)（和/英） | RFIC / RFIC |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 君島 正幸 / Masayuki Kimishima / キミシマ マサユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社アドバンテスト研究所 (略称： アドバンテスト研) Advantest Lboratories Ltd (略称： Advantest Lab) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-03-06 16:35:00 |
| 発表時間 | 40分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2024-181 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.421 |
| ページ範囲 | pp.70-75 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-02-27 (MW) |
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