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講演抄録/キーワード
講演名 2025-03-07 14:25
暗号モジュールへの故障注入対策に向けた複数の位相同期回路の構成法に関する検討
西山 輝産総研/奈良先端大)・藤本大介林 優一奈良先端大VLD2024-129 HWS2024-100 ICD2024-120
抄録 (和) 位相同期回路(PLL)を用いてクロック供給される暗号モジュールに対し、PLL入力クロックにグリッチを発生させることで故障を発生させる手法が提案されている。本研究では、クロックグリッチによるPLLの周波数応答特性が異なる複数のPLLを直列に接続する際に、複数のPLLの接続順序がグリッチによる故障の発生およびPLL出力周波数の変動に与える影響を評価することで、暗号モジュールへの故障注入に耐性が得られるPLLの構成法について検討を行う。 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) 暗号モジュール / 故障利用解析 / 位相同期回路 / 意図的電磁妨害 / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 124, no. 401, HWS2024-100, pp. 150-154, 2025年3月.
資料番号 HWS2024-100 
発行日 2025-02-26 (VLD, HWS, ICD) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2024-129 HWS2024-100 ICD2024-120

研究会情報
研究会 HWS ICD VLD  
開催期間 2025-03-05 - 2025-03-08 
開催地(和) みんなの貸会議室 那覇旭町店 
開催地(英)  
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2025-03-HWS-ICD-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 暗号モジュールへの故障注入対策に向けた複数の位相同期回路の構成法に関する検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Study on Constitution Method of Multiple PLLs for Fault Injection Countermeasures to Cryptographic Modules 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 暗号モジュール /  
キーワード(2)(和/英) 故障利用解析 /  
キーワード(3)(和/英) 位相同期回路 /  
キーワード(4)(和/英) 意図的電磁妨害 /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西山 輝 / Hikaru Nishiyama /
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所/奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 産総研/奈良先端大)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology/Nara Institute of Science and Technology (略称: AIST/NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto /
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 林 優一 / Yuichi Hayashi /
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-03-07 14:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 VLD2024-129, HWS2024-100, ICD2024-120 
巻番号(vol) vol.124 
号番号(no) no.400(VLD), no.401(HWS), no.402(ICD) 
ページ範囲 pp.150-154 
ページ数
発行日 2025-02-26 (VLD, HWS, ICD) 


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