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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-03-07 11:15 Responseを再利用したMTJ-PUFの提案と機械学習攻撃耐性の評価 ○塚田大貴・宇佐美公良（芝浦工大）  VLD2024-126 HWS2024-97 ICD2024-117 |
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| 抄録 | （和） | LSIの個体認証技術の1つであるPUF(Physically Unclonable Function)は、機械学習攻撃(ML攻撃)による脆弱性の問題がある。本研究では、ML攻撃耐性の向上を目的として、製造時に生じるMTJ(Magnetic Tunnel Junction)への書き込み時間のばらつきを利用した、Response再利用型MTJ-PUFを提案する。ML攻撃耐性を評価するために、ロジスティック回帰(LR)、サポートベクターマシン(SVM)、多層パーセプトロン(MLP)、畳み込み層を用いたモデル(Convolution-MLP)をMLモデルとして使用する。評価結果として、各MLモデルの予測率は理想値である50%に近い値であり、ML攻撃耐性があることを示した。 |
| （英） | PUF (Physically Unclonable Function), one of the individual authentication technologies for LSI, has a problem of vulnerability to machine learning attacks (ML attacks). In this study, we propose a response reuse type MTJ-PUF that utilizes the variation in the writing time to MTJ (Magnetic Tunnel Junction) that occurs during manufacturing, with the aim of improving ML attack resistance. To evaluate ML attack resistance, we use logistic regression (LR), support vector machine (SVM), multilayer perceptron (MLP), and a model using a convolutional layer (Convolution-MLP) as ML models. As a result of the evaluation, the prediction rate of each ML model was close to the ideal value of 50%, indicating that it is resistant to ML attacks. | |
| キーワード | （和） | PUF / MTJ / セキュリティ / 製造ばらつき / 再利用 / / / |
| （英） | PUF / MTJ / Security / Manufacturing Variability / Reuse / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 124, no. 400, VLD2024-126, pp. 132-137, 2025年3月. | |
| 資料番号 | VLD2024-126 | |
| 発行日 | 2025-02-26 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2024-126 HWS2024-97 ICD2024-117 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS ICD VLD |
| 開催期間 | 2025-03-05 - 2025-03-08 |
| 開催地（和） | みんなの貸会議室 那覇旭町店 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2025-03-HWS-ICD-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Responseを再利用したMTJ-PUFの提案と機械学習攻撃耐性の評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | MTJ-PUF with Response Reuse and Evaluation of Machine Learning Attack Resistance |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(2)（和/英） | MTJ / MTJ |
| キーワード(3)（和/英） | セキュリティ / Security |
| キーワード(4)（和/英） | 製造ばらつき / Manufacturing Variability |
| キーワード(5)（和/英） | 再利用 / Reuse |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 塚田 大貴 / Taiki Tsukada / ツカダ タイキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： SIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-03-07 11:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2024-126, HWS2024-97, ICD2024-117 |
| 巻番号（vol） | vol.124 |
| 号番号（no） | no.400(VLD), no.401(HWS), no.402(ICD) |
| ページ範囲 | pp.132-137 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-02-26 (VLD, HWS, ICD) |
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