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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-07-07 16:40 IC裏面キャパシタへのRFプロービングによるハードウェアトロージャン検知手法の検討 ○西山 輝（産総研）・林 優一（産総研/奈良先端大）・川村信一（産総研）  ISEC2025-28 SITE2025-18 BioX2025-42 HWS2025-17 ICSS2025-28 EMM2025-31 |
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| 抄録 | （和） | 集積回路（IC）へのハードウェアトロージャン（HT）の挿入は、サプライチェーン全体のセキュリティを低下させる脅威として知られている。これまでに提案されてきた検知手法の中でも、バックスキャッタを利用する手法は、非侵襲かつHTの起動を伴うことなく検知を可能とする利点がある。しかし従来法では、専用の計測ポートを介してバックスキャッタを計測するため、検知のために機器の改変を伴う。さらに、IC以外で発生するバックスキャッタが混入することで、HT挿入に伴う変化がバックスキャッタの計測値に反映されにくく、検知感度が十分とは言えない。本稿では、IC 裏面に実装されたキャパシタに接触させた RFプローブを用いてバックスキャッタを計測する手法を提案する。これにより、機器の改変を伴うことなく、従来法よりも高感度に IC内部へのHTの挿入を検知できることを示す。 |
| （英） | Hardware trojans (HTs) into integrated circuits (ICs) is a known threat that can compromise the security of the entire supply chain. Among the detection methods proposed, the method using backscatter has the advantage of being non-invasive and allowing detection without HT activation. However, the conventional method requires device modification for detection because backscatter is measured via a dedicated measurement port. In addition, backscatter generated outside the IC is mixed in, making it difficult for changes caused by HT insertion to be reflected in the measured backscatter value, and the detection sensitivity is not sufficient. This paper proposes a method of measuring backscatter using an RF probe in contact with a capacitor mounted on the backside of the IC. We show that this method can detect HT insertion into the IC with higher sensitivity than the conventional method without any modification of the equipment. Translated with DeepL.com (free version) |
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| キーワード | （和） | ハードウェアトロージャン / バックスキャッタ / 高周波計測 / / / / / |
| （英） | Hardware trojans / Backscattering / Radio-Frequency Measurements / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 102, HWS2025-17, pp. 76-80, 2025年7月. | |
| 資料番号 | HWS2025-17 | |
| 発行日 | 2025-06-30 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2025-28 SITE2025-18 BioX2025-42 HWS2025-17 ICSS2025-28 EMM2025-31 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS BioX ISEC SITE ICSS EMM IPSJ-CSEC IPSJ-SPT |
| 開催期間 | 2025-07-07 - 2025-07-09 |
| 開催地（和） | 札幌コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Sapporo Convention Center |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 （セキュリティサマーサミット2025） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2025-07-HWS-BioX-ISEC-SITE-ICSS-EMM-CSEC-SPT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | IC裏面キャパシタへのRFプロービングによるハードウェアトロージャン検知手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Detection Method of Hardware Trojan by RF Probing to IC Backside Capacitors |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ハードウェアトロージャン / Hardware trojans |
| キーワード(2)（和/英） | バックスキャッタ / Backscattering |
| キーワード(3)（和/英） | 高周波計測 / Radio-Frequency Measurements |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西山 輝 / Hikaru Nishiyama / |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所/奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 産総研/奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川村 信一 / Shinichi Kawamura / |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-07-07 16:40:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | ISEC2025-28, SITE2025-18, BioX2025-42, HWS2025-17, ICSS2025-28, EMM2025-31 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.99(ISEC), no.100(SITE), no.101(BioX), no.102(HWS), no.103(ICSS), no.104(EMM) |
| ページ範囲 | pp.76-80 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2025-06-30 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) |
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