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講演抄録/キーワード
講演名 2025-07-07 16:15
電子機器の電磁的特性を利用した個体識別の検討
小林 剛菅原直樹堀口嵩浩赤堀美桜三菱電機ISEC2025-27 SITE2025-17 BioX2025-41 HWS2025-16 ICSS2025-27 EMM2025-30
抄録 (和) 電子機器の偽造が問題となっており半導体素子の製造ばらつきを利用した機器認証(PUF)や電子機器の放射ノイズを利用した機器の識別について研究が行われている.これに対し,電子機器の電磁的特性を利用した個体識別に関する実験結果を報告する.具体的には同じ型名の複数台のUSB-Hubをサンプルとし,USBコネクタから測定した信号端子の反射特性を元に,個体の識別ができるかを試行し,99%以上の確率で正しく識別できたことを報告する. 
(英) Counterfeiting of electronic devices has become a problem, and research is being conducted on device authentication (PUF) that utilizes manufacturing variations in semiconductor elements, and device identification using noise emitted by electronic devices. In response to this, we report the results of experiments on individual identification using the electromagnetic characteristics of electronic devices. Specifically, we used multiple USB hubs with the same model name as samples, and attempted to identify individual devices based on the reflection characteristics of the signal terminals measured from the USB connector, and reported that correct identification was possible with a probability of over 99%.
キーワード (和) 電子機器識別 / 個体識別 / 反射特性 / / / / /  
(英) Electronic device identification / individual identification / reflection characteristics / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 125, no. 102, HWS2025-16, pp. 72-75, 2025年7月.
資料番号 HWS2025-16 
発行日 2025-06-30 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ISEC2025-27 SITE2025-17 BioX2025-41 HWS2025-16 ICSS2025-27 EMM2025-30

研究会情報
研究会 HWS BioX ISEC SITE ICSS EMM IPSJ-CSEC IPSJ-SPT 
開催期間 2025-07-07 - 2025-07-09 
開催地(和) 札幌コンベンションセンター 
開催地(英) Sapporo Convention Center 
テーマ(和) セキュリティ、一般 (セキュリティサマーサミット2025) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 HWS 
会議コード 2025-07-HWS-BioX-ISEC-SITE-ICSS-EMM-CSEC-SPT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電子機器の電磁的特性を利用した個体識別の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A study on individual identification using the electromagnetic characteristics of electronic devices 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 電子機器識別 / Electronic device identification  
キーワード(2)(和/英) 個体識別 / individual identification  
キーワード(3)(和/英) 反射特性 / reflection characteristics  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 剛 / Tsuyoshi Kobayashi / コバヤシ ツヨシ
第1著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社 (略称: 三菱電機)
MitsubishiElectric Co. (略称: MitsubishiElectric)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 菅原 直樹 / Naoki Sugawara / スガワラ ナオキ
第2著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社 (略称: 三菱電機)
MitsubishiElectric Co. (略称: MitsubishiElectric)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 堀口 嵩浩 / Takahiro Horiguchi / ホリグチ タカヒロ
第3著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社 (略称: 三菱電機)
MitsubishiElectric Co. (略称: MitsubishiElectric)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 赤堀 美桜 / Mio Akahori / アカホリ ミオ
第4著者 所属(和/英) 三菱電機株式会社 (略称: 三菱電機)
MitsubishiElectric Co. (略称: MitsubishiElectric)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-07-07 16:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 HWS 
資料番号 ISEC2025-27, SITE2025-17, BioX2025-41, HWS2025-16, ICSS2025-27, EMM2025-30 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.99(ISEC), no.100(SITE), no.101(BioX), no.102(HWS), no.103(ICSS), no.104(EMM) 
ページ範囲 pp.72-75 
ページ数
発行日 2025-06-30 (ISEC, SITE, BioX, HWS, ICSS, EMM) 


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