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講演抄録/キーワード
講演名 2025-07-24 14:10
2.45GHz帯における野菜の誘電率測定法の基礎検討
柴田幸司小林正樹八戸工大)・高崎和之都立産技高専)・平栗健史日本工大AP2025-49
抄録 (和) 本研究では, 植物工場内での安定的なドローン通信を実現するシステム構築の基礎検討として, 2.45GHz帯における野菜の苗の複素誘電率の測定法を検討した. その為, 先ず植物の苗の各部位の複素誘電率の測定法として, 筆者が豊富な測定実績を有する遮断円筒導波管反射法を選択した. そして, 野菜の種類としてキュウリとトマトを選び, キュウリは実の根元と皮, トマトは枝と実の根元の葉を選定した. そして, キュウリの実の根元とトマトの枝は細かく刻み, またキュウリの皮とトマトの葉は, ある程度の量をそのままの状態で同軸給電の遮断円筒導波管の試料挿入部に挿入して上部から金属棒で加圧した. この状態にて0.1 – 4.1GHzの周波数でS11の測定値から誘電率を推定した. その結果, キュウリの根元・皮とも虚部の周波数特性は直流に向かい直線的に増加した. これに影響され, キュウリの誘電率の実部は周波数が低くなると大きくなり, キュウリの複素誘電率の実部は皮より根元の方が大きくなった. 次に, トマトの虚部は周波数が低くなると直線的に増加した. また, 葉と茎の両部位に対し, トマトの方がキュウリよりも虚部の値が大きくなった, そして特に, トマトの葉の誘電率の虚部は, 100MHzにて500程度と巨大な値となった. 更に実部は周波数が低くなると値が直線的に増加した. この理由はトマトに多くのイオンが含まれる為と考える. 更に, これらの結果の妥当性を検証する為, TM010円筒空洞共振器法でもトマトの枝の複素誘電率を測定した. その際, 測定理論として摂動法と厳密解の両手法を適用した. その結果, 2.517GHzにおけるトマトの茎の複素誘電率の値は遮断円筒導波管反射法による結果と同等の値となった. これより, ハウス内での野菜を含む電波伝搬の解析に必要な基礎的なデータが取得できたと考える. 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) 誘電率測定 / 遮断円筒導波管 / 同軸線路 / 円筒空洞共振器 / インピーダンス測定 / / /  
(英) Dielectric measurement / Cut-off circular waveguide / Coaxial line / Cylindrical cavity resonator / Impedance measurement / / /  
文献情報 信学技報, vol. 125, no. 125, AP2025-49, pp. 87-92, 2025年7月.
資料番号 AP2025-49 
発行日 2025-07-16 (AP) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード AP2025-49

研究会情報
研究会 AP SANE SAT  
開催期間 2025-07-23 - 2025-07-25 
開催地(和) 函館アリーナ 
開催地(英) hakodate arena 
テーマ(和) リモートセンシング,地下電磁計測,衛星通信,一般 
テーマ(英) Remote sensing, Subsurface Electromagnetic Measurements, Sattelite Communication, Antennas and Propagation 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 AP 
会議コード 2025-07-AP-SANE-SAT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 2.45GHz帯における野菜の誘電率測定法の基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental Study on the Dielectric Measurement Method of Vegetables in the 2.45GHz Band 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 誘電率測定 / Dielectric measurement  
キーワード(2)(和/英) 遮断円筒導波管 / Cut-off circular waveguide  
キーワード(3)(和/英) 同軸線路 / Coaxial line  
キーワード(4)(和/英) 円筒空洞共振器 / Cylindrical cavity resonator  
キーワード(5)(和/英) インピーダンス測定 / Impedance measurement  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 柴田 幸司 / Kouji Shibata / シバタ コウジ
第1著者 所属(和/英) 八戸工業大学 (略称: 八戸工大)
Hachinohe Institute of Technology (略称: Hachinohe Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 正樹 / Masaki Kobayashi / マサキ コバヤシ
第2著者 所属(和/英) 八戸工業大学 (略称: 八戸工大)
Hachinohe Institute of Technology (略称: Hachinohe Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 高崎 和之 / Kazuyuki Takahashi / タカハシ カズユキ
第3著者 所属(和/英) 東京都立産業技術高等専門学校 (略称: 都立産技高専)
Tokyo Metropolitan College of Industrial Technology (略称: TMCIT)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 平栗 健史 / Takefumi Hiraguri / ヒラグリ タケフミ
第4著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Technology (略称: Nippon Inst. of Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-07-24 14:10:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 AP 
資料番号 AP2025-49 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.125 
ページ範囲 pp.87-92 
ページ数
発行日 2025-07-16 (AP) 


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