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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-12-02 17:50 自己観測バウンダリスキャンを用いる半断線故障検査法の提案 ○南 柊哉・四柳浩之（徳島大）・橋爪正樹（放送大）  VLD2025-48 ICD2025-68 DC2025-81 RECONF2025-99 |
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| 抄録 | （和） | バウンダリスキャン（BS）はIC間配線のテストに広く用いられ，外観検査やプロービングが困難な場合に特に有効である．しかし標準のBS検査は，検査対象配線の両端にBS回路を必要とし，また，半断線故障のように信号伝搬に遅延をもたらすが論理値上は異常として観測されない故障の検出が困難である．本研究では，片側のBSのみで配線の半断線を検出可能とする自己観測バウンダリスキャンを提案する．また，提案手法の故障検出可能性と温度特性についてシミュレーションにより調査した． |
| （英） | Boundary-Scan(BS) is a design-for-testability method used for testing interconnects between integrated circuits (ICs), and it is particularly effective when visual inspection or electrical probing is difficult. However, testing interconnects using the BS method essentially requires BS cells embedded on both sides. Moreover, it is unable to detect resistive open faults, which cause signal transition delays without resulting in logical errors. This paper proposes a self-monitoring BS architecture that can detect resistive open faults even when the opposite end of the interconnect does not have a BS circuit. The fault detection capability and temperature dependence of the proposed method were investigated through simulations. | |
| キーワード | （和） | バウンダリスキャン / 検査容易化設計 / 半断線故障 / / / / / |
| （英） | Boundary Scan / Design-for-Testability / Resistive Open Fault / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 262, DC2025-81, pp. 167-172, 2025年12月. | |
| 資料番号 | DC2025-81 | |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-48 ICD2025-68 DC2025-81 RECONF2025-99 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2025-12-01 - 2025-12-03 |
| 開催地（和） | 富山国際会議場（富山） |
| 開催地（英） | Toyama International Conference Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 自己観測バウンダリスキャンを用いる半断線故障検査法の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Proposal for a Test Method Using Self-Monitoring Boundary-Scan to Detect Resistive Open Faults |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | バウンダリスキャン / Boundary Scan |
| キーワード(2)（和/英） | 検査容易化設計 / Design-for-Testability |
| キーワード(3)（和/英） | 半断線故障 / Resistive Open Fault |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 南 柊哉 / Shuya Minami / ミナミ シュウヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 放送大学 (略称： 放送大) The Open University of Japan (略称： OUJ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-12-02 17:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2025-48, ICD2025-68, DC2025-81, RECONF2025-99 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.167-172 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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