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講演抄録/キーワード
講演名 2025-12-02 11:25
反復エラー注入とLoRAを用いてViTに向けたComputation-in-Memoryを小型でエラーに堅牢にするFine-tuning手法
三澤奈央子張 睿騏王 韬松井千尋竹内 健東大VLD2025-32 ICD2025-52 DC2025-65 RECONF2025-83
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 125, no. 261, ICD2025-52, pp. 84-86, 2025年12月.
資料番号 ICD2025-52 
発行日 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2025-32 ICD2025-52 DC2025-65 RECONF2025-83

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2025-12-01 - 2025-12-03 
開催地(和) 富山国際会議場(富山) 
開催地(英) Toyama International Conference Center 
テーマ(和) デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 反復エラー注入とLoRAを用いてViTに向けたComputation-in-Memoryを小型でエラーに堅牢にするFine-tuning手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fine-tuning Method using LoRA with Iterative Error Injection to make ViT Computation-in-Memory Tiny and Robust to Errors 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 三澤 奈央子 / Naoko Misawa / ミサワ ナオコ
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 張 睿騏 / Ruiqi Zhang /
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 韬 / Tao Wang /
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 松井 千尋 / Chihiro Matsui / マツイ チヒロ
第4著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 健 / Ken Takeuchi / タケウチ ケン
第5著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: Univ. Tokyo)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-12-02 11:25:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 VLD2025-32, ICD2025-52, DC2025-65, RECONF2025-83 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) 
ページ範囲 pp.84-86 
ページ数
発行日 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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