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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-12-02 17:10 割り込み信号線検査のための弛緩発振器による電気検査法の試作と検討 ○山橋湧也・四柳浩之（徳島大）・橋爪正樹（放送大）  VLD2025-46 ICD2025-66 DC2025-79 RECONF2025-97 |
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| 抄録 | （和） | IC 間配線の電気検査法として弛緩発振器を用いて微小な欠陥を検出する手法が提案されている. 提案済み手法ではバウンダリスキャン (BS) を併用するが，センサなどからの割り込み信号を供給する配線に BS を組み込むことは遅延により機器の応答に支障をきたす可能性があるため適用性が低い. 本稿では，BS を用いず割り込み信号線検査を行う電気検査法を提案する. また，試作 IC の実測により故障検出可能性を調査したため報告する． |
| （英） | We have previously proposed an electrical interconnect test method using a relaxation oscillator to detect resistive open defects between ICs. The test method assumes that ICs have boundary scan (BS) to prepare for electrical interconnect testing by outputting an H-level signal to the interconnects. However, the proposed method is less suitable for interconnects that deliver interrupt signals from sensors because it may introduce delay that degrades the response performance of the system. In this work, we propose an electrical test method for interrupt signal lines that does not rely on BS. We have evaluated the feasibility of defect detection through measurements on a prototyped IC, and present the results in this | |
| キーワード | （和） | 抵抗断線故障 / 電気検査法 / 弛緩発振器 / / / / / |
| （英） | resistive open defect / electrical interconnect testing / relaxation oscillator / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 262, DC2025-79, pp. 155-160, 2025年12月. | |
| 資料番号 | DC2025-79 | |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-46 ICD2025-66 DC2025-79 RECONF2025-97 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2025-12-01 - 2025-12-03 |
| 開催地（和） | 富山国際会議場（富山） |
| 開催地（英） | Toyama International Conference Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 割り込み信号線検査のための弛緩発振器による電気検査法の試作と検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Experimental Study of an Electrical Interconnect Test Method for Interrupt Signal Lines using a Relaxation Oscillator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 抵抗断線故障 / resistive open defect |
| キーワード(2)（和/英） | 電気検査法 / electrical interconnect testing |
| キーワード(3)（和/英） | 弛緩発振器 / relaxation oscillator |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山橋 湧也 / Yuya Yamahashi / ヤマハシ ユウヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 徳島大学 (略称： 徳島大) Tokushima University (略称： Tokushima Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 放送大学 (略称： 放送大) The Open University of Japan (略称： OUJ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-12-02 17:10:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2025-46, ICD2025-66, DC2025-79, RECONF2025-97 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.155-160 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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