| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2025-12-03 09:20
[招待講演]大規模階層デザインにおけるテスト課題に対するソリューションとAIによる開発効率化 ○鈴木祐也(日本シノプシス) VLD2025-49 ICD2025-69 DC2025-82 RECONF2025-100 |
| 抄録 |
(和) |
近年AI半導体など大規模な設計が増加し、それにより設計TATの長期化、テスト時間/容量の増大、Test bandwidthの確保などの課題が生じています。またLLMなど長時間駆動するモデルでは、動作中のチップ状態の管理なども求められます。本講演ではそれらの課題に対するSynopsysの取り組みについて発表します。 |
| (英) |
(Not available yet) |
| キーワード |
(和) |
AI / Machine Learning / HSIO / HSAT / Streaming Fabric / Sequential Compression / / |
| (英) |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 125, no. 260, VLD2025-49, pp. 173-173, 2025年12月. |
| 資料番号 |
VLD2025-49 |
| 発行日 |
2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
| ISSN |
Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
VLD2025-49 ICD2025-69 DC2025-82 RECONF2025-100 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 |
2025-12-01 - 2025-12-03 |
| 開催地(和) |
富山国際会議場(富山) |
| 開催地(英) |
Toyama International Conference Center |
| テーマ(和) |
デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ(英) |
Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
VLD |
| 会議コード |
2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
大規模階層デザインにおけるテスト課題に対するソリューションとAIによる開発効率化 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Solutions for Large Scale Complex Design Challange and Development Efficiency by Artificial Intelligence |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
AI / |
| キーワード(2)(和/英) |
Machine Learning / |
| キーワード(3)(和/英) |
HSIO / |
| キーワード(4)(和/英) |
HSAT / |
| キーワード(5)(和/英) |
Streaming Fabric / |
| キーワード(6)(和/英) |
Sequential Compression / |
| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
鈴木 祐也 / Yuya Suzuki / スズキ ユウヤ |
| 第1著者 所属(和/英) |
日本シノプシス合同会社 (略称: 日本シノプシス)
Nihon Synopsys (略称: NSGK) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2025-12-03 09:20:00 |
| 発表時間 |
50分 |
| 申込先研究会 |
VLD |
| 資料番号 |
VLD2025-49, ICD2025-69, DC2025-82, RECONF2025-100 |
| 巻番号(vol) |
vol.125 |
| 号番号(no) |
no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) |
| ページ範囲 |
p.173 |
| ページ数 |
1 |
| 発行日 |
2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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