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講演抄録/キーワード
講演名 2025-12-03 16:30
デバイス選択とパラメータ最適化を統合したモンテカルロ木探索ベースのアナログ回路自動設計手法
森口悠斗高井伸和京都工繊大VLD2025-65 ICD2025-85 DC2025-98 RECONF2025-116
抄録 (和) 半導体プロセスデザインキットには,異なるしきい値や耐圧をもつMOSFETや構造の異なる抵抗など,複数のデバイス種類が含まれる.
アナログ回路では,これらのデバイスの用途に応じた使い分けが性能を左右する.
しかし,このようなデバイス選択は離散的かつその組合せが膨大であり,従来の自動設計手法では十分に扱えなかった.
本研究では,モンテカルロ木探索によるデバイス選択と,リーフノードでのベイズ最適化によるパラメータ調整を統合した自動設計手法を提案する.
提案手法を用いて,0.7 Vの低電圧で動作可能なバンドギャップ基準回路の設計し,温度係数12.6 ppm/℃,電源電圧変動除去比71.7 dBを達成した. 
(英) Modern PDKs provide various device options such as MOSFETs with different threshold voltages and resistors with distinct characteristics.
Since device selection is a discrete and combinatorial problem, it is difficult to handle with conventional automation.
We propose an automated design method combining Monte Carlo Tree Search for device selection and Bayesian optimization for parameter tuning.
Using the proposed method, a 0.7 V bandgap reference was designed, achieving a temperature coefficient of 12.6 ppm/℃ and a power supply rejection ratio of 71.7 dB.
キーワード (和) アナログ回路 / モンテカルロ木探索 / ベイズ最適化 / バンドギャップリファレンス / / / /  
(英) analog circuit / Monte Carlo tree search / Bayesian optimization / bandgap reference / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 125, no. 261, ICD2025-85, pp. 261-266, 2025年12月.
資料番号 ICD2025-85 
発行日 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2025-65 ICD2025-85 DC2025-98 RECONF2025-116

研究会情報
研究会 VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM  
開催期間 2025-12-01 - 2025-12-03 
開催地(和) 富山国際会議場(富山) 
開催地(英) Toyama International Conference Center 
テーマ(和) デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) デバイス選択とパラメータ最適化を統合したモンテカルロ木探索ベースのアナログ回路自動設計手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Monte Carlo Tree Search-Based Device Selection for Automated Analog Circuit Design 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アナログ回路 / analog circuit  
キーワード(2)(和/英) モンテカルロ木探索 / Monte Carlo tree search  
キーワード(3)(和/英) ベイズ最適化 / Bayesian optimization  
キーワード(4)(和/英) バンドギャップリファレンス / bandgap reference  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森口 悠斗 / Yuto Moriguchi / モリグチ ユウト
第1著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 高井 伸和 / Nobukazu Takai / タカイ ノブカズ
第2著者 所属(和/英) 京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-12-03 16:30:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 VLD2025-65, ICD2025-85, DC2025-98, RECONF2025-116 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) 
ページ範囲 pp.261-266 
ページ数
発行日 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) 


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