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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2025-12-03 11:05 経年劣化耐性を持ったRS-DICEの検討 ○小竹渓心・難波一輝（千葉大）  VLD2025-56 ICD2025-76 DC2025-89 RECONF2025-107 |
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| 抄録 | （和） | 近年の半導体デバイスでは微細化と低電圧化が進む一方でソフトエラーの影響が増大しており信頼性向上が重要となっている。また、トランジスタの長期使用に伴うバイアス温度不安定性（BTI）によるしきい値電圧変動も深刻な問題である。ソフトエラー率（SER）は臨界電荷に依存し、その減少を抑制することが重要である。本研究では高いSEU耐性を持つRS-DICEに対しBTI劣化抑制設計を適用した。HSPICEシミュレーションの結果、RS-DICEはもともと劣化影響が小さいものの、提案回路では5年後における臨界電荷の減少率を約3.3%に抑えることが可能であり、長期信頼性の向上に有効であることを確認した。 |
| （英） | In recent semiconductor technology, device scaling and low-voltage operation have increased the susceptibility to soft errors, making reliability improvement a critical challenge. In addition, degradation caused by long-term transistor operation threatens the stability of CMOS circuits, with threshold voltage variation due to bias temperature instability (BTI) being a major concern. Since the soft error rate (SER) strongly depends on the critical charge, preventing its reduction is essential for maintaining soft error robustness. This study investigates a BTI-mitigated modification of the RS-DICE structure. HSPICE simulation results demonstrate that although RS-DICE inherently exhibits high single-event upset (SEU) immunity, the proposed design can suppress the reduction in critical charge to approximately 3.3% after five years, thereby enhancing long-term reliability. | |
| キーワード | （和） | ソフトエラー / SEU / BTI / / / / / |
| （英） | Soft Error / SEU / BTI / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 262, DC2025-89, pp. 210-214, 2025年12月. | |
| 資料番号 | DC2025-89 | |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-56 ICD2025-76 DC2025-89 RECONF2025-107 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC RECONF ICD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2025-12-01 - 2025-12-03 |
| 開催地（和） | 富山国際会議場（富山） |
| 開催地（英） | Toyama International Conference Center |
| テーマ（和） | デザインガイア2025 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2025 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2025-12-VLD-DC-RECONF-ICD-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 経年劣化耐性を持ったRS-DICEの検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study of RS-DICE with Aging Resistance |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | SEU / SEU |
| キーワード(3)（和/英） | BTI / BTI |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小竹 渓心 / Keishin Kotake / コタケ ケイシン |
| 第1著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 難波 一輝 / Kazuteru Namba / ナンバ カズテル |
| 第2著者 所属（和/英） | 千葉大学 (略称： 千葉大) Chiba University (略称： Chiba univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2025-12-03 11:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2025-56, ICD2025-76, DC2025-89, RECONF2025-107 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.260(VLD), no.261(ICD), no.262(DC), no.263(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.210-214 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2025-11-24 (VLD, ICD, DC, RECONF) |
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