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講演抄録/キーワード
講演名 2025-12-19 16:00
DPI試験結果に基づく車載Ethernet機器のBCI試験結果予測モデルの構築と評価
蟹江勇太玉井誠人矢野佑典王 建青名工大EMCJ2025-97
抄録 (和) 近年,自動運転を含む運転支援システムの普及に伴い,車載機器間での大容量・リアルタイム通信を実現するための高速通信方式として,
車載Ethernetの採用が進んでいる.
車載通信システムの信頼性確保のためには,高いノイズ耐性を有する設計と評価が求められる.
特に,半導体IC試験,車載機器試験,車両試験といった複数段階のイミュニティ試験を繰り返し実施する必要があり,
そのたびにECU設計の見直しを伴うため,試験時間とコストの増大が課題となっている.
この課題に対し,半導体ICレベルの試験結果から車載機器レベルの試験結果を予測する手法が検討されている.
両試験においてノイズ印加部からトランシーバIC(PHY)への伝搬特性を適切に表現できれば,
DPI試験結果をもとにPHYのエラー発生閾値を導出し,BCI試験結果を推定することが可能である.
先行研究では,三次元電磁界解析を用いたECUモデルにより伝搬特性を解析する手法が報告されているが,
モデル構築の工数が大きく,現象の理解が難しいという課題がある.
本研究では,より簡便な構築と直感的な理解を可能とする回路シミュレーションベースの予測モデルを検討した.
第一段階として,DPI試験およびBCI試験を模擬した回路シミュレーションを構築し,
DPI試験から得られるPHYのエラー発生閾値に基づき,BCI試験におけるエラー発生周波数の予測可能性を評価した.
その結果,75%の予測精度を達成し,回路シミュレーションを用いた試験結果予測の有効性を確認した. 
(英) In recent years, the spread of driver assistance
and autonomous driving systems has accelerated the adoption of automotive Ethernet
to enable high-speed, large-capacity, real-time communication between in-vehicle devices.
To ensure reliable communication, highly noise-resistant designs and multi-stage immunity tests are required.
However, repeated testing and ECU redesign result in excessive time and cost.
To address this issue, a method for predicting ECU-level Bulk Current Injection (BCI) test results from
IC-level Direct Power Injection (DPI) test results has been studied.
If the propagation characteristics from the noise injection point to the PHY can be accurately represented,
the PHY error threshold derived from DPI results can be used to predict BCI outcomes.
Although previous studies used three-dimensional electromagnetic simulations of ECU models,
such modeling requires extensive effort and makes physical interpretation difficult.
This study proposes a simpler and more intuitive prediction model based on circuit simulation.
As a first step,
we construct circuit simulations that emulate both test setups and investigate the feasibility of predicting
the error-occurrence frequencies in the BCI test by using the PHY error threshold obtained from the DPI test.
As a result, a prediction accuracy of 75% was achieved,
which confirms the effectiveness of using circuit simulations to predict the test results.
キーワード (和) DPI / BCI / PHY / 試験結果予測 / / / /  
(英) DPI / BCI / PHY / Prediction of result / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 125, no. 305, EMCJ2025-97, pp. 63-68, 2025年12月.
資料番号 EMCJ2025-97 
発行日 2025-12-12 (EMCJ) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMCJ2025-97

研究会情報
研究会 EMCJ IEE-EMC  
開催期間 2025-12-19 - 2025-12-19 
開催地(和) シンフォニアテクノロジー響ホール伊勢 
開催地(英)  
テーマ(和) 半導体電力変換,EMC一般,自然・人工雑音 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMCJ 
会議コード 2025-12-EMCJ-EMC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) DPI試験結果に基づく車載Ethernet機器のBCI試験結果予測モデルの構築と評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Investigation of Prediction Model Construction for BCI Test Results of Automotive Ethernet Devices Based on DPI Test Results 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) DPI / DPI  
キーワード(2)(和/英) BCI / BCI  
キーワード(3)(和/英) PHY / PHY  
キーワード(4)(和/英) 試験結果予測 / Prediction of result  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 蟹江 勇太 / Yuta Kanie / カニエ ユウタ
第1著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 玉井 誠人 / Masato Tamai / タマイ マサト
第2著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 矢野 佑典 / Yusuke Yano / ヤノ ユウスケ
第3著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 王 建青 / Jianqing Wang / オウ ケンセイ
第4著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: NITech)
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講演者 第1著者 
発表日時 2025-12-19 16:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMCJ 
資料番号 EMCJ2025-97 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.305 
ページ範囲 pp.63-68 
ページ数
発行日 2025-12-12 (EMCJ) 


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