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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-01-19 15:15 印刷耐性データハイディング手法における誤り分布の分析 ○森田耀斗・小嶋徹也（東京高専）  EMM2025-106 |
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| 抄録 | （和） | 紙面に掲載されている情報以外は得られないという，従来の紙製教材の欠点を解決するため，データハイディング技術を印刷物に活用したデジタル教材が提案されている．既存研究では，直接スペクトル拡散方式を用いて画像のDCT係数に情報を埋め込んで印刷し，紙面に印刷された画像をカメラで撮影して情報の抽出を行っている．本研究では，提案されている埋め込み手法について，アプリケーションの利用時に起こりうる，ステゴ画像の劣化を原因とする抽出データの誤り特性を詳細に調べる．調査の結果をもとに，劣化に対する耐性がより高い誤り検出・訂正符号や，埋め込み手法の検討および提案を行う． |
| （英） | A digital learning system utilizing data hiding techniques for printed matters have been proposed. The objective of this system is to overcome the shortcomings of traditional paper-based learning materials which provide only the information printed on the paper. In this system, the access information to the online learning materials is embedded into the DCT regions of images by the direct spread-spectrum method. The embedded information can be extracted by capturing the printed stego image by the camera function of the mobile devices like smartphones. In this study, we investigate the error characteristics of the extracted data under the environment where the printed stego images are degraded during use. Based on the experimental results, we propose to employ appropriate error-detecting codes and error-correcting codes in this system along with the improvements of the embedding and extracting methods. | |
| キーワード | （和） | データハイディング / DCT係数 / Walsh系列 / ビット誤り特性 / / / / |
| （英） | data hiding / DCT coefficient / Walsh code / bit error characteristics / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 317, EMM2025-106, pp. 31-36, 2026年1月. | |
| 資料番号 | EMM2025-106 | |
| 発行日 | 2026-01-12 (EMM) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMM2025-106 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMM |
| 開催期間 | 2026-01-19 - 2026-01-20 |
| 開催地（和） | 東北大学 電気通信研究所 本館1階オープンセミナー室 |
| 開催地（英） | Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | 臨場感生成，ユニバーサルメディア，ディジタルエンタテインメント，一般 |
| テーマ（英） | Sense of Presence, Universal Media, Digital Entertainment, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMM |
| 会議コード | 2026-01-EMM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 印刷耐性データハイディング手法における誤り分布の分析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis on Error Distribution for a Print-resistant Data Hiding Scheme |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | データハイディング / data hiding |
| キーワード(2)（和/英） | DCT係数 / DCT coefficient |
| キーワード(3)（和/英） | Walsh系列 / Walsh code |
| キーワード(4)（和/英） | ビット誤り特性 / bit error characteristics |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森田 耀斗 / Akito Morita / モリタ アキト |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業高等専門学校 (略称： 東京高専) National Institute of Technology, Tokyo College (略称： NIT, Tokyo College) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小嶋 徹也 / Tetsuya Kojima / コジマ テツヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業高等専門学校 (略称： 東京高専) National Institute of Technology, Tokyo College (略称： NIT, Tokyo College) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-01-19 15:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMM |
| 資料番号 | EMM2025-106 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.317 |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2026-01-12 (EMM) |
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