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| 講演名 | 2026-02-17 13:25 一様なランダムパターンに対する故障検出確率とその算出法 ○小泉優哉・細川利典（日大）・吉村正義（京都産大）  DC2025-117 |
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| 抄録 | （和） | 近年のVLSIの大規模化に伴い，テストデータ量が劇的に増加している．それゆえ，組込み自己テスト(BIST) が重要になっている．しかしながら，BISTではランダムパターン耐性(RPR) 故障の影響により十分に高い故障検出率を得ることが困難である．また， RPR故障の判定基準は既存研究において統一されたものはない．本論文では，故障検出確率に基づくRPR故障の定量的定義およびその算出手法を提案する．提案手法は，SATベーステスト生成，ドントケア判定，及び二分決定グラフを用いて，故障毎に全入カパターン数に対する全検出パターン数の割合として故障検出確率を計算する．この故障検出確率に基づきRPR故障を特定し， BISTにおけるRPR故障解析やテスト容易化設計などの評価指標として用いる．実験結果は，提案手法がBISTにおけるRPR故障解析の評価に有効であったことを示す． |
| （英） | In recent years, since the scale of VLSIs has increased, the amount of test data has drastically increased. Therefore, built-in self-test (BIST) has become important. However, it is difficult to achieve sufficiently high fault coverage with BIST due to the influence of random-pattern-resistant (RPR) faults. Furthermore, no unified criteria for RPR faults have been established in conventional researches. In this paper, we propose a quantitative definition and its calculation method for RPR faults based on fault detection probability. The proposed method calculates the fault detection probability for each fault which is defined as the ratio of the number of total detection patterns to the number of total input patterns using SAT-based test generation, don't-care identification, and binary decision diagrams. RPR faults are identified based on the fault detection probability and are expected to be used as an evaluation criterion for RPR fault analysis and design for testability in BIST. Experimental results show that the proposed method was effective for evaluating RPR fault analysis in BIST. | |
| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / RPR故障 / ドントケア判定 / 故障検出確率 / 二分決定グラフ / / / |
| （英） | Built-In Self-Test / Random Pattern Resistant fault / don’t-care identification / fault detection probability / binary decision diagram / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 352, DC2025-117, pp. 37-42, 2026年2月. | |
| 資料番号 | DC2025-117 | |
| 発行日 | 2026-02-10 (DC) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2025-117 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2026-02-17 - 2026-02-17 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2026-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 一様なランダムパターンに対する故障検出確率とその算出法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault detection probability for uniformly random patterns and its calculation method |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-In Self-Test |
| キーワード(2)（和/英） | RPR故障 / Random Pattern Resistant fault |
| キーワード(3)（和/英） | ドントケア判定 / don’t-care identification |
| キーワード(4)（和/英） | 故障検出確率 / fault detection probability |
| キーワード(5)（和/英） | 二分決定グラフ / binary decision diagram |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小泉 優哉 / Yuya Koizumi / コイズミ ユウヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都産業大学 (略称： 京都産大) Kyoto Sangyo University (略称： Kyoto Sangyo Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-02-17 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2025-117 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2026-02-10 (DC) |
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