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| 講演名 | 2026-03-06 10:20 ARARE: I/O回路からのバックスキャッタを用いた経年劣化検出のための評価ボードに関する検討 ○鍛治秀伍・藤本大介・林 優一（奈良先端大）  VLD2025-102 HWS2025-98 ICD2025-113 |
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| 抄録 | （和） | 半導体需給の逼迫を背景に、ICサプライチェーンにおける真正性確保が重要な課題となっている。特に廃棄基板から回収したリサイクルICは偽造半導体の大きな割合を占めるが、従来の機能試験のみでは検出が困難である。これに対し、リングオシレータなどの専用回路による経年劣化検出手法が提案されているものの、IC内部への回路実装を前提とするため市販ICへの適用性に制約がある。そこで、専用回路を追加せずUHF帯の電磁波を印加し、ICで生じるバックスキャッタの変化から劣化を検出する手法が提案されている。一方、バックスキャッタを劣化の検出指標として用いるためには、劣化が生じるICの内部の回路の変化を精度よく計測できる評価環境が不可欠である。本稿では、I/O回路で生じたバックスキャッタの変化の発生要因を評価可能なARARE (Aging Rf-backscatter Accelerated stRess-testing Evaluation) ボードおよび計測環境を提案する。電圧・温度ストレスを与える加速試験を計115時間実施した7台のARAREボードで計測された、666 MHzにおけるバックスキャッタの振幅強度差の経時変化を評価した結果、ストレス条件に応じた変化がバックスキャッタの振幅強度差に再現性よく表れることを確認した。本検討により、提案した評価ボードがI/O回路で生じたバックスキャッタの変化と劣化進行の関係を検証し、劣化の検出指標としての妥当性を明確化するために有用な計測環境である可能性が示された。 |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | 評価プラットフォーム / 経年劣化 / 加速試験 / バックスキャッタ / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 125, no. 383, HWS2025-98, pp. 147-151, 2026年3月. | |
| 資料番号 | HWS2025-98 | |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2025-102 HWS2025-98 ICD2025-113 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD HWS VLD |
| 開催期間 | 2026-03-04 - 2026-03-07 |
| 開催地（和） | みんなの貸会議室 那覇旭町店404会議室 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術, ハードウェアセキュリティ, 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | HWS |
| 会議コード | 2026-03-ICD-HWS-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ARARE: I/O回路からのバックスキャッタを用いた経年劣化検出のための評価ボードに関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | ARARE: A Study on an Evaluation Board for Aging Detection Using Backscatter from I/O Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 評価プラットフォーム / |
| キーワード(2)（和/英） | 経年劣化 / |
| キーワード(3)（和/英） | 加速試験 / |
| キーワード(4)（和/英） | バックスキャッタ / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鍛治 秀伍 / Shugo Kaji / カジ シュウゴ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto / フジモト ダイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 林 優一 / Yuichi Hayashi / ハヤシ ユウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-03-06 10:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | HWS |
| 資料番号 | VLD2025-102, HWS2025-98, ICD2025-113 |
| 巻番号（vol） | vol.125 |
| 号番号（no） | no.382(VLD), no.383(HWS), no.384(ICD) |
| ページ範囲 | pp.147-151 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2026-02-25 (VLD, HWS, ICD) |
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