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講演抄録/キーワード
講演名 2026-03-13 11:05
[招待講演]Cu CMP後の逐次SMI処理によるリーク電流抑制
西之坊拓海Kai-Hung Yu米澤亮太鈴木秀直相澤宏一東京エレクトロンSDM2025-72
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
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文献情報 信学技報, vol. 125, no. 399, SDM2025-72, pp. 1-3, 2026年3月.
資料番号 SDM2025-72 
発行日 2026-03-06 (SDM) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2025-72

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2026-03-13 - 2026-03-13 
開催地(和) 金沢工業大学大学院 虎ノ門キャンパス 
開催地(英)  
テーマ(和) 配線・実装技術と関連材料技術 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2026-03-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Cu CMP後の逐次SMI処理によるリーク電流抑制 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Post-Cu CMP leakage suppression using sequential small molecular inhibitor treatment 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 西之坊 拓海 / Takumi Nishinobo / ニシノボウ タクミ
第1著者 所属(和/英) 東京エレクトロン (略称: 東京エレクトロン)
Tokyo Electron Limited (略称: Tokyo Electron Limited)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Kai-Hung Yu / Kai-Hung Yu / カイホン ユー
第2著者 所属(和/英) 東京エレクトロン (略称: 東京エレクトロン)
Tokyo Electron Limited (略称: Tokyo Electron Limited)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 米澤 亮太 / Ryota Yonezawa / ヨネザワ リョウタ
第3著者 所属(和/英) 東京エレクトロン (略称: 東京エレクトロン)
Tokyo Electron Limited (略称: Tokyo Electron Limited)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 秀直 / Hidenao Suzuki / スズキ ヒデナオ
第4著者 所属(和/英) 東京エレクトロン (略称: 東京エレクトロン)
Tokyo Electron Limited (略称: Tokyo Electron Limited)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 相澤 宏一 / Hirokazu Aizawa / アイザワ ヒロカズ
第5著者 所属(和/英) 東京エレクトロン (略称: 東京エレクトロン)
Tokyo Electron Limited (略称: Tokyo Electron Limited)
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講演者 第1著者 
発表日時 2026-03-13 11:05:00 
発表時間 40分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2025-72 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.399 
ページ範囲 pp.1-3 
ページ数
発行日 2026-03-06 (SDM) 


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