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講演抄録/キーワード
講演名 2026-03-16 11:40
電磁波サイドチャネル攻撃の効率化に向けた基板全域漏洩評価 ~ 自動走査によるホットスポット可視化と対策影響分析 ~
村瀬 遼長崎県立大IT2025-141 ISEC2025-149 WBS2025-123 RCC2025-122
抄録 (和) 先行研究においては,暗号実装から漏洩する電磁波(EM)を基板上で可視化し,
漏洩分布が実装構造に強く依存することを示されている.
しかし,従来は可視化そのものに主眼が置かれ,攻撃評価や対策効果検証へ接続する枠組みは十分に整理されていなかった.
本稿では,低コスト装置群(3Dプリンタステージ,H場プローブ,ChipWhisperer)を統合し,
基板全域を自動ラスタ走査してEMホットスポットを可視化する評価パイプラインを構築した.
各測定点で一定時間の連続キャプチャを行い,オンライン統計により平均波形と分散を推定して擬似SNRスコアを算出し,
スコアマップ(PNG)および数値(CSV)として保存する.
さらに,ピーク強度やピーク位置(Top-$K$)などの要約情報に基づき,
簡易的対策(電源配線の接続位置変更・シールド)による漏洩分布の変化を比較する. 
(英) Previous studies have visualized electromagnetic (EM) waves leaking from cryptographic implementations on circuit boards, demonstrating that the leakage distribution strongly depends on the implementation structure.
However, the focus has traditionally been on visualization itself, and frameworks connecting this to attack evaluation and countermeasure effectiveness verification have not been sufficiently organized.
This paper integrates a low-cost device suite (3D printer stage, H-field probe, ChipWhisperer)
to construct an evaluation pipeline that automatically raster scans the entire board surface to visualize EM hotspots.
Continuous captures are performed for a fixed duration at each measurement point. Online statistics estimate the average waveform and variance to calculate a pseudo SNR score,
which is saved as a score map (PNG) and numerical data (CSV).
Furthermore, based on summary information such as peak intensity and peak position (Top-$K$),
changes in the leakage distribution due to simple countermeasures (modifying power wiring connection points, shielding) are compared.
キーワード (和) サイドチャネル攻撃 / 電磁波攻撃 / ホットスポット / 可視化 / 自動走査 / 対策評価 / /  
(英) side channel attack / electromagnetic wave attack / hot spot / visualization / automatic scanning / Countermeasure evaluation / /  
文献情報 信学技報, vol. 125, no. 405, ISEC2025-149, pp. 412-419, 2026年3月.
資料番号 ISEC2025-149 
発行日 2026-03-09 (IT, ISEC, WBS, RCC) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IT2025-141 ISEC2025-149 WBS2025-123 RCC2025-122

研究会情報
研究会 IT WBS ISEC RCC  
開催期間 2026-03-16 - 2026-03-17 
開催地(和) 信州大学 長野キャンパス 
開催地(英) Nagano Campus, Shinshu University 
テーマ(和) ISEC/IT/RCC/WBS合同研究会 
テーマ(英) Joint Workshop of ISEC, IT, RCC, and WBS 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ISEC 
会議コード 2026-03-IT-WBS-ISEC-RCC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 電磁波サイドチャネル攻撃の効率化に向けた基板全域漏洩評価 
サブタイトル(和) 自動走査によるホットスポット可視化と対策影響分析 
タイトル(英) Full-Board Leakage Assessment for Efficient Electromagnetic Side-Channel Attacks 
サブタイトル(英) Hotspot Visualization and Countermeasure Impact Analysis through Automated Scanning 
キーワード(1)(和/英) サイドチャネル攻撃 / side channel attack  
キーワード(2)(和/英) 電磁波攻撃 / electromagnetic wave attack  
キーワード(3)(和/英) ホットスポット / hot spot  
キーワード(4)(和/英) 可視化 / visualization  
キーワード(5)(和/英) 自動走査 / automatic scanning  
キーワード(6)(和/英) 対策評価 / Countermeasure evaluation  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 村瀬 遼 / Ryo Murase / ムラセ リョウ
第1著者 所属(和/英) 長崎県立大学 (略称: 長崎県立大)
University of Nagasaki (略称: Nagasaki Univ)
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講演者 第1著者 
発表日時 2026-03-16 11:40:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ISEC 
資料番号 IT2025-141, ISEC2025-149, WBS2025-123, RCC2025-122 
巻番号(vol) vol.125 
号番号(no) no.404(IT), no.405(ISEC), no.406(WBS), no.407(RCC) 
ページ範囲 pp.412-419 
ページ数
発行日 2026-03-09 (IT, ISEC, WBS, RCC) 


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