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講演抄録/キーワード
講演名 2026-07-09 11:55
3次元FDTD解析に基づく開口導体箱型構造物の壁面欠陥識別に関する基礎検討
森 謙次朗木村秀明中部大EMT2026-9 MW2026-32 OPE2026-15 EST2026-13 MWPTHz2026-24
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) (Not available yet)
キーワード (和) FDTD法 / 非破壊検査 / 欠陥識別 / 機械学習 / / / /  
(英) FDTD method / nondestructive testing / defect identification / machine learning / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 126, no. 99, EST2026-13, pp. 31-36, 2026年7月.
資料番号 EST2026-13 
発行日 2026-07-02 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) 
ISSN Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMT2026-9 MW2026-32 OPE2026-15 EST2026-13 MWPTHz2026-24

研究会情報
研究会 OPE EST MWPTHz MW EMT IEE-EMT  
開催期間 2026-07-09 - 2026-07-10 
開催地(和) 釧路商工会議所 
開催地(英) Kushiro Chamber of Commerce and Industry 
テーマ(和) 光・電波ワークショップ 
テーマ(英) Workshop on Optical and Microwave technologies 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EST 
会議コード 2026-07-OPE-EST-MWPTHz-MW-EMT-EMT 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 3次元FDTD解析に基づく開口導体箱型構造物の壁面欠陥識別に関する基礎検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Fundamental Study on Wall Defect Identification of an Open Conducting Box Structure Based on Three-Dimensional FDTD Analysis 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) FDTD法 / FDTD method  
キーワード(2)(和/英) 非破壊検査 / nondestructive testing  
キーワード(3)(和/英) 欠陥識別 / defect identification  
キーワード(4)(和/英) 機械学習 / machine learning  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 謙次朗 / Kenjiro Mori / モリ ケンジロウ
第1著者 所属(和/英) 中部大学 (略称: 中部大)
Chubu University (略称: Chubu Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 木村 秀明 / Hideaki Kimura / キムラ ヒデアキ
第2著者 所属(和/英) 中部大学 (略称: 中部大)
Chubu University (略称: Chubu Univ)
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講演者 第1著者 
発表日時 2026-07-09 11:55:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EST 
資料番号 EMT2026-9, MW2026-32, OPE2026-15, EST2026-13, MWPTHz2026-24 
巻番号(vol) vol.126 
号番号(no) no.96(EMT), no.97(MW), no.98(OPE), no.99(EST), no.100(MWPTHz) 
ページ範囲 pp.31-36 
ページ数
発行日 2026-07-02 (EMT, MW, OPE, EST, MWPTHz) 


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