| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2026-11-07 15:25 A Summary of Finite Probability Distributions ○Toshio Nakagawa（AIT）・Syouji Nakamura（Kinjyou Gakuin Univ）・Kazunori Iwata（Aichi Univ）  R2026-48 |
|
| 抄録 | （和） | A finite interval is considered in reliability models because systems have finite mission times and planned lifves, and their maintenances are done at finite times. This paper takes up the standard probability distribtions of finite intervals such as uniform, triangular, uniform-triangular, trapezoid, concave, sine, and sine-square. The mean, mode, median, variance, density, failure rate and cumulative hazard rate of each distribution are summarized. As the range of statistical applications expands rapidly, such probability distributions are widely used in various fields to develop practical models. |
| （英） | A finite interval is considered in reliability models because systems have finite mission times and planned lifves, and their maintenances are done at finite times. This paper takes up the standard probability distribtions of finite intervals such as uniform, triangular, uniform-triangular, trapezoid, concave, sine, and sine-square. The mean, mode, median, variance, density, failure rate and cumulative hazard rate of each distribution are summarized. As the range of statistical applications expands rapidly, such probability distributions are widely used in various fields to develop practical models. |
|
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | Distribution / Triangular / Trapezoid / Cocave / Finite interval / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 126, no. 227, R2026-48, pp. 21-25, 2026年11月. | |
| 資料番号 | R2026-48 | |
| 発行日 | 2026-10-31 (R) | |
| ISSN | Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2026-48 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2026-11-07 - 2026-11-07 |
| 開催地（和） | 奈良春日野国際フォーラム I・RA・KA 第２会議室（奈良県奈良市） |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | Reliability of semiconductor and electronic devices, Reliability general |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2026-11-R |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Summary of Finite Probability Distributions |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / Distribution |
| キーワード(2)（和/英） | / Triangular |
| キーワード(3)（和/英） | / Trapezoid |
| キーワード(4)（和/英） | / Cocave |
| キーワード(5)（和/英） | / Finite interval |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中川 覃夫 / Toshio Nakagawa / ナカガワ トシオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛知工業大学 (略称： 愛知工大) Aichi Institute of Technology (略称： AIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 正治 / Syouji Nakamura / ナカムラ ショウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 金城学院大学 (略称： 金城学院大) Kinjo Gakuin University (略称： Kinjyou Gakuin Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩田 員典 / Kazunori Iwata / カズノリ イワタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛知大学 (略称： 愛知大) Aichi University (略称： Aichi Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2026-11-07 15:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2026-48 |
| 巻番号（vol） | vol.126 |
| 号番号（no） | no.227 |
| ページ範囲 | pp.21-25 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2026-10-31 (R) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る] (日本語ページの行間係数: 1)