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信頼性研究会 (R) (検索条件: 2015年度)
「from:2015-11-19 to:2015-11-19」による検索結果
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| R | 2015-11-19 14:00 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | 階層ベイズとフィルタリングを用いた信頼性解析 ○貝瀬 徹（兵庫県立大）  R2015-56 |
[more] | R2015-56 pp.1-4 |
| R | 2015-11-19 14:25 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | ソフトエラーの同時発生範囲の測定方法 ○益田 昇・安永守利（筑波大） R2015-57 |
中性子線による半導体集積回路のソフトエラーでは1 粒子の中性子線が複数の回路に同時にエラーを起こす場合があり，これを対策... [more] | R2015-57 pp.5-10 |
| R | 2015-11-19 14:50 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | 反射率変化観測と変化率イメージングによるパワーMOSFETの動作解析 ○遠藤幸一（東芝）・中村共則（浜松ホトニクス）・中前幸治（阪大） R2015-58 |
誘導負荷スイッチング(UIS)条件にあるパワー用MOSFETの表面の温度変化の観測を行った．測定装置としては光学プローブ... [more] | R2015-58 pp.11-16 |
| R | 2015-11-19 15:30 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | 市場品質保証のための電子部品の信頼性試験計画 ○松岡敏成（三菱電機） R2015-59 |
[more] | R2015-59 pp.17-22 |
| R | 2015-11-19 15:55 |
大阪 | 大阪中央電気倶楽部 | ライフエンド評価用加速試験一考察 ○伊藤貞則（イトケン事務所） R2015-60 |
[more] | R2015-60 pp.23-26 |
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