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機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 長瀬 亮 (NTT)
副委員長 吉田 清 (日本工大)
幹事 長谷川 誠 (千歳科技大)， 関川 純哉 (静岡大)
幹事補佐 一矢 光雄 (松下電工)

信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 柳 繁 (防衛大)
副委員長 若井 一顕 (NHK)
幹事 弓削 哲史 (防衛大)， 木村 光宏 (法政大)
幹事補佐 海生 直人 (広島修道大)， 馬渡 宏泰 (NTT)

日時 2009年 2月20日(金)　09:50 - 17:35
議題 機構デバイスの信頼性,信頼性一般 （共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会，IEEE CPMT JAPAN，IEEE R JAPAN) 
会場名 住友電装本社 
住所 〒510-8503 三重県四日市市西末広町1番14号
交通案内 JR関西線 「四日市駅」下車 徒歩10分
http://www.sws.co.jp/corporation/map/honsha.html
会場世話人
連絡先		 服部 康弘
059-382-8714
他の共催 ◆IEEE Reliability Society Japan Chapter；日本信頼性学会共催
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)

2月20日(金) 午前 
09:50 - 17:35
(1) 09:50-10:15 錫および銀めっき電気接点における接触抵抗挙動解析 R2008-44 EMD2008-120 ○澤田　滋（三重大）・清水佳織・服部康弘（オートネットワーク技研）・玉井輝雄（三重大）
(2) 10:15-10:40 錫(Sn)めっき表面の酸化皮膜の成長と接触抵抗特性 ～ エリプソメトリによる研究 ～ R2008-45 EMD2008-121 ○鍋田佑也・齋藤　寧・澤田　滋（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・玉井輝雄（三重大）
(3) 10:40-11:05 Snめっきの高温放置における酸化被膜成長と接触抵抗特性についての検討 R2008-46 EMD2008-122 ○富永裕一・山中拓哉・齋藤　寧・玉井輝雄・飯田和生（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）
(4) 11:05-11:30 微摺動摩耗によるコネクタ寿命の研究 R2008-47 EMD2008-123 ○伊藤大二・池田博榮・齋藤　寧・玉井輝雄・飯田和生（三重大）・伊藤哲也・服部康弘（オートネットワーク技研）
  11:30-12:30 昼食　（ 60分 ）
(5) 12:30-12:55 錫めっき微摺動接点の微細構造観察 R2008-48 EMD2008-124 ○伊藤哲也・澤田　滋・野村良行・服部康弘（オートネットワーク技研）・齋藤　寧・玉井輝雄・飯田和生（三重大）
(6) 12:55-13:20 光切断法を応用した電極表面形状の評価システムに関する実験的検討 R2008-49 EMD2008-125 柏倉　誠・工藤駿佑・○須藤あすか・長谷川　誠（千歳科技大）
(7) 13:20-13:45 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について(その4) ～ R2008-50 EMD2008-126 ○和田真一・園田健人・越田圭治・菊地光男・久保田洋彰（TMCシステム）・澤　孝一郎（慶大）
(8) 13:45-14:10 はんだ接続点における鉛フリーはんだの引張強度解析 R2008-51 EMD2008-127 ○橋口　卓・奈須川佑太・平岡一則（サレジオ高専）
  14:10-14:25 休憩　（ 15分 ）
(9) 14:25-14:50 シリコーンによる電気接点接触障害の評価技術(1) ～ 新たな評価装置を用いた環境評価試験について ～ R2008-52 EMD2008-128 ○森井真喜人・森脇弘之（オムロン）・田中秀樹・植木義貴・鈴木健嗣・吉住公男・西川昌伸（エスペック）
(10) 14:50-15:15 シリコーン蒸気汚染による接触不良発生の電気回路条件依存性 R2008-53 EMD2008-129 ○玉井輝雄（三重大）
(11) 15:15-15:40 リレー接点の接触抵抗特性に対するシリコーン系及び非シリコーン系ポリマー硬化物の影響に関する実験的検討 R2008-54 EMD2008-130 ○長谷川　誠・松藤卓真（千歳科技大）・河野良行・安藤　寛（カネカ）
  15:40-15:55 休憩　（ 15分 ）
(12) 15:55-16:20 赤りん系難燃剤採用樹脂の機構部品に及ぼす影響 R2008-55 EMD2008-131 ○伊藤貞則（イトケン事務所）
(13) 16:20-16:45 放送設備における漂遊金属と耐雷対策 R2008-56 EMD2008-132 ○若井一顕（第一工大）・澤栗裕二（SGC）
(14) 16:45-17:10 SC及びMU形光コネクタの屋外環境下での信頼性評価 R2008-57 EMD2008-133 ○阿部宜輝・柳　秀一・浅川修一郎・長瀬　亮（NTT）
(15) 17:10-17:35 人体通信を利用した制服の脱衣検知システムの開発 （講演なし） ○近藤彰則（都立産技高専）・鎌田紗由美（都立航空高専）・藤川真樹（中大）・古澤健治（三矢研）・西垣正勝（静岡大）・吉沢昌純（都立産技高専）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 長谷川 誠（千歳科学技術大学）
TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059
E--mail: pn
関川 純哉（静岡大学）
TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618
E--mail: tjkipc
一矢 光雄（松下電工）
TEL (070)5432-0873、FAX (03)6218-1921
E--mail: iw 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 弓削哲史(防衛大学校)
TEL 046-841-3810
FAX 046-844-5903
E--mail: gen 


Last modified: 2009-09-07 15:53:51


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