1月28日(金) 午後  13:00 - 16:30
(1)	13:00-13:25	炭素アーク電圧電流特性に関する一考察 EMD2010-135	○須原啓一（東京高専）
(2)	13:25-13:50	錫めっき摺動接点の三次元微細構造 EMD2010-136	○伊藤哲也・荻原　茂・服部康弘（オートネットワーク技研）
(3)	13:50-14:15	錫めっき微摺動摩耗痕内の接触抵抗分布測定 EMD2010-137	○増井壮志・澤田　滋・玉井輝雄（三重大）・服部康弘（オートネットワーク技研）・飯田和生（三重大）
(4)	14:15-14:40	錫めっき接点の形状と荷重に関する微摺動特性 EMD2010-138	○田井富茂・古本哲也（日本航空電子）
	14:40-14:50	休憩　（ 10分 ）
(5)	14:50-15:15	同軸マルチコアPOFを用いた光回転リンクジョイントの構成法に関する研究 EMD2010-139	○蒲　和也・川島　信（中部大）・川端俊介（伊原電子）・佐生誠司（旭化成イーマテリアルズ）
(6)	15:15-15:40	印刷銀配線板におけるイオンマイグレーション抑制におよぼす樹脂-クレイハイブリッド化合物の効果 EMD2010-140	○大谷泰之・中島伸一郎（日本航空電子）
(7)	15:40-16:05	タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(1) ～ EMD2010-141	○和田真一・越田圭治・サインダー ノロブリン・川述真裕・石塚大貴・柳　国男・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大）
(8)	16:05-16:30	タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 ～ タッピング・デバイスの試作(2) ～ EMD2010-142	○越田圭治・和田真一・サインダー ノロブリン・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・久我宣裕（横浜国大）・澤　孝一郎（慶大名誉教授/日本工大）

問合先と今後の予定
EMD	機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
	問合先	長谷川 誠（千歳科学技術大学） TEL (0123)27-6059、FAX (0123)27-6059 E-: pn 関川 純哉（静岡大学） TEL (053) 478-1618、FAX (053) 478-1618 E-: tjkipc 服部 康弘（住友電装） TEL (059)382-8970、FAX (059)382-8591 E-: -tsws
	お知らせ	◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。

Last modified: 2011-01-25 18:31:18