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信頼性研究会（R） [schedule] [select]
専門委員長 安里 彰 (富士通)
副委員長 土肥 正 (広島大)
幹事 田村 信幸 (法政大)， 井上 真二 (関西大)
幹事補佐 岡村 寛之 (広島大)， 横川 慎二 (電通大)

機構デバイス研究会（EMD） [schedule] [select]
専門委員長 萓野 良樹 (電通大)
幹事 上野 貴博 (日本工大)
幹事補佐 林 優一 (奈良先端大)， 宮永 和明 (富士通コンポーネント)

日時 2021年 2月12日(金)　13:30 - 15:45
議題 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：信頼性研究会） 
会場名 オンライン開催 
他の共催 ◆日本信頼性学会，IEEE Reliability Society Japan Chapter共催
著作権に
ついて		 以下の論文すべての著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
参加費に
ついて		 この開催は「技報完全電子化」研究会です．参加費（EMD研究会, R研究会）についてはこちらをご覧ください．

2月12日(金) 午後  オンライン開催
13:30 - 15:45
  13:30-13:35 委員長挨拶　（ 5分 ）
(1) 13:35-14:00 高信頼性トリガギャップスイッチにより大気中で発生する12路並列放電アークの写真観察 R2020-34 EMD2020-25 ○相沢友勝（都立高専）
(2) 14:00-14:25 450VDC/10A回路における開離時アークの陰極輝点の移動特性とアークランナー表面の温度 R2020-35 EMD2020-26 ○佐藤裕之・関川純哉（静岡大）
  14:25-14:35 休憩　（ 10分 ）
(3) 14:35-15:00 ユーザーの利用調査データに基づくモバイル端末のバッテリー劣化傾向の診断 R2020-36 EMD2020-27 ○浅野　実・横川慎二・石垣　陽（電通大）・冨永潤一・栗津浜一（携帯市場）
(4) 15:00-15:45 ［招待講演］電子デバイスに対する信頼性物理の諸課題 ～ 物理的に解明が必要な故障メカニズム ～ R2020-37 EMD2020-28 ○門田　靖（リコー）

講演時間
一般講演発表 20 分 ＋ 質疑応答 5 分

問合先と今後の予定
R 信頼性研究会（R）   [今後の予定はこちら]
問合先 井上 真二（関西大）
E--mail: ini-u 
EMD 機構デバイス研究会（EMD）   [今後の予定はこちら]
問合先 林 優一（奈良先端科学技術大学院大学）
E--mail: -iisist 
お知らせ ◎EMD研究会に関する最新の情報は、http://www.ieice.org/es/emd/jpn/をご参照ください。


Last modified: 2020-12-22 09:44:53


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