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次世代無線設備試験認証技術研究会 (ACT)
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研究会
発表日時
開催地
タイトル・著者
抄録
資料番号
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
13:30
東京
NICT麹町会議室
ホーンアンテナの近傍電磁界特性について
○
小松崎暁彦
・
新井宏之
(
横浜国大
)
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
13:55
東京
NICT麹町会議室
変調波源からの放射界の測定・評価法についての検討
○
陳 強
・
佐山稔貴
・
澤谷邦男
(
東北大
)
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
14:20
東京
NICT麹町会議室
合成開口波源を用いた遠方界測定法における対向アンテナ指向性の影響
○
山口 良
・
小宮一公
・
長 敬三
(
NTTドコモ
)
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
14:45
東京
NICT麹町会議室
アンテナ一体型無線端末に関する全放射電力測定法の比較
○
石井 望
(
新潟大
)
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
15:10
東京
NICT麹町会議室
Analysis of the Influence of Element Position-Error on the Beam-Pattern of Synthetic Cylindrical Array
○
Karlisa Priandana
・
Mir Ghoraishi
・
Jun-ichi Takada
(
Tokyo Tech
)・
Michitaka Ameya
・
Satoru Kurokawa
・
Masanobu Hirose
(
AIST
)
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
15:35
東京
NICT麹町会議室
EMC試験機器校正を目指した高周波インピーダンス標準の開発
○
堀部雅弘
・
信太正明
(
産総研
)
EMIレシーバや疑似電源回路網(LISN/AMN)などでは,入力インピーダンスや挿入損失の校正が必要とされている.その校...
[more]
ACT
(第二種研究会)
2010-07-09
16:00
東京
NICT麹町会議室
SVSWR自動測定装置を用いたターンテーブル全エリアのSVSWR評価
○
飴谷充隆
・
黒川 悟
(
産総研
)・
渡辺育夫
・
山口未来斗
・
蓮見亮一
(
デバイス
)
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