| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 研究会 開催スケジュール |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
すべての研究会開催スケジュール (検索条件: すべての年度)
| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| ICD, IPSJ-ARC, IPSJ-EMB (連催) |
2010-01-28 10:05 |
東京 | 東芝本社 | ダイナミック光再構成型ゲートアレイのブロック再構成 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大）  ICD2009-106 |
[more] | ICD2009-106 pp.19-23 |
| VLD, DC, IPSJ-SLDM (連催) ICD, CPM (共催) CPSY, RECONF (併催) [詳細] |
2009-12-03 13:45 |
高知 | 高知市文化プラザ | MEMSを用いた反転・非反転ダイナミック光再構成型ゲートアレイ ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） RECONF2009-42 |
[more] | RECONF2009-42 pp.7-12 |
| VLD | 2009-09-25 14:10 |
大阪 | 大阪大学 情報系総合研究棟 | MEMSダイナミック光再構成型ゲートアレイの不良耐性 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） VLD2009-42 |
[more] | VLD2009-42 pp.71-76 |
| ICD | 2008-12-11 13:30 |
東京 | 東工大（大岡山）国際交流会館 | ［ポスター講演］ダイナミック光再構成型ゲートアレイのゲートアレイ部の性能評価 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） ICD2008-117 |
[more] | ICD2008-117 pp.73-78 |
| SDM [詳細] | 2008-11-13 15:35 |
東京 | 機械振興会館 | 大規模光再構成型ゲートアレイにおけるホログラムメモリの不良耐性 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） SDM2008-172 |
[more] | SDM2008-172 pp.21-26 |
| RECONF | 2008-09-26 09:30 |
岡山 | 岡山大学 | 大規模ゲート光再構成型ゲートアレイの保持時間の測定 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） RECONF2008-31 |
[more] | RECONF2008-31 pp.51-56 |
| LQE, CPM, EMD, OPE (共催) |
2008-08-28 13:40 |
宮城 | 東北大学 | 大規模ダイナミック光再構成型ゲートアレイVLSIの評価 ○瀬戸大作・渡邊 実（静岡大） EMD2008-37 CPM2008-52 OPE2008-67 LQE2008-36 |
[more] | EMD2008-37 CPM2008-52 OPE2008-67 LQE2008-36 pp.27-32 |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]