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| 研究会 | 発表日時 | 開催地 | タイトル・著者 | 抄録 | 資料番号 | |
| VLD, DC, RECONF, ICD (共催) IPSJ-SLDM (連催) [詳細] |
2023-11-16 17:10 |
熊本 | くまもと市民会館シアーズホーム夢ホール （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レイアウト起因LSI欠陥検出における欠陥モデルとデータ拡張手法の検討 ○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大）  VLD2023-62 ICD2023-70 DC2023-69 RECONF2023-65 |
半導体集積回路において，欠陥の原因を特定することはその信頼性を確保するうえで重要である． 回路レイアウトに起因する欠陥... [more] |
VLD2023-62 ICD2023-70 DC2023-69 RECONF2023-65 pp.168-172 |
| DC | 2023-02-28 11:00 |
東京 | 機械振興会館 （ハイブリッド開催，主：現地開催，副：オンライン開催） |
レイアウト起因LSI欠陥検出のためのFSGANを用いたデータ拡張に関する検討 ○杉岡拓海・永村美一（都立大）・新井雅之（日大）・福本 聡（都立大） DC2022-82 |
[more] | DC2022-82 pp.1-5 |
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