ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2006-06-02 09:35
反射法と結像法の併用による表面凹凸のハイブリッド測定システム
上月具挙舒 芹福井大)・當間安厚北計工業)・菅 博広島国際大)・石川和彦福井高専)・桜井哲真上田正紘福井大
抄録 (和) 鏡面試料の表面うねりと粗面試料の表面粗さの両方を測定し得る光学的システムを開発した。システムは測定試料からの反射光を用いた表面うねり測定部と,散乱光を用いた表面粗さ測定部を併用したハイブリッド構造となっている。本システムの表面うねり測定における解像度は1nm以下,測定周波数は24Hz,表面粗さ測定における解像度は約2μm,測定レンジは±0.3mm,また測定周波数は100Hzである。 
(英) A hybrid system for measuring both surface undulation and surface roughness has been proposed by means of laser reflection and laser scattering. Two main subsystems are incorporated in a body; i.e., it is a hybrid system, with one subsystem based on a laser reflection and used for measuring a surface undulation on a mirror-like surface, and the other based on an imaging of the irradiated portion and used for a surface roughness on a rough surface. It was found that the subsystem for surface undulation has a spatial resolution of 1 nm with a measurement frequency of 24 Hz, and that the subsystem for roughness has a spatial resolution of 2μm with a measurement frequency of about 100 Hz.
キーワード (和) リアルタイム測定 / 表面うねり / 表面粗さ / 反射光 / 散乱光 / / /  
(英) Real-time measurement / Surface undulation / Surface roughness / Laser reflection / Laser scattering / / /  
文献情報 信学技報, vol. 106, no. 90, LQE2006-1, pp. 1-6, 2006年6月.
資料番号 LQE2006-1 
発行日 2006-05-26 (LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 LQE  
開催期間 2006-06-02 - 2006-06-02 
開催地(和) 福井大学 
開催地(英) University of Fukui 
テーマ(和) 量子光学、非線形光学、超高速現象、レーザ基礎、及び一般 
テーマ(英) Quantum Optics, Non-linear Optics, Ultra-high Speed Phenomenon, Laser Physics 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2006-06-LQE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 反射法と結像法の併用による表面凹凸のハイブリッド測定システム 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Hybrid System for Measuring Surface Undulation by Means of Reflection Method and Image Method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) リアルタイム測定 / Real-time measurement  
キーワード(2)(和/英) 表面うねり / Surface undulation  
キーワード(3)(和/英) 表面粗さ / Surface roughness  
キーワード(4)(和/英) 反射光 / Laser reflection  
キーワード(5)(和/英) 散乱光 / Laser scattering  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 上月 具挙 / Tomotaka Kouzuki / コウズキ トモタカ
第1著者 所属(和/英) 福井大学工学部 (略称: 福井大)
University of Fukui (略称: Univ. of Fukui)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 舒 芹 / Qin Shu / Qin Shu
第2著者 所属(和/英) 福井大学工学部 (略称: 福井大)
University of Fukui (略称: Univ. of Fukui)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 當間 安厚 / Yasunori Touma / トウマ ヤスノリ
第3著者 所属(和/英) (株)北計工業 (略称: 北計工業)
Hokkei Industries Co. Ltd. (略称: Hokkei)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 菅 博 / Hiroshi Suga / スガ ヒロシ
第4著者 所属(和/英) 広島国際大学社会環境科学部 (略称: 広島国際大)
Hiroshima International University (略称: Hiroshima International Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 石川 和彦 / Kazuhiko Ishikawa / イシカワ カズヒロ
第5著者 所属(和/英) 福井高専電子情報工学科 (略称: 福井高専)
Fukui National College of Technology (略称: Fukui Nat. Col. of Tech.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 桜井 哲真 / Tetsuma Sakurai / サクライ テツマ
第6著者 所属(和/英) 福井大学工学部 (略称: 福井大)
University of Fukui (略称: Univ. of Fukui)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 上田 正紘 / Masahiro Ueda / ウエダ マサヒロ
第7著者 所属(和/英) 福井大学教育地域科学部 (略称: 福井大)
University of Fukui (略称: University of Fukui)
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2006-06-02 09:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 LQE2006-1 
巻番号(vol) vol.106 
号番号(no) no.90 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2006-05-26 (LQE) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会