| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-06-08 15:30
プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計
○中里昌人・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大） |
| 抄録 |
（和） |
本稿では，テンプレートを利用したテストプログラム生成法から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避するプロセッサのテスト容易化設計法を提案する．
テンプレートを利用したテストプログラム生成法では，モジュール単体テスト生成で検出可能な故障が，テストプログラム実行時では検出されない誤りマスクが問題である．
提案手法は，誤りマスクを完全に除去するという意味で，テンプレートレベル故障検出効率100\%を達成可能である．
また，提案手法は，信号線の観測のみで誤りマスクを回避するため，遅延オーバーヘッドがなく実動作速度テストが可能である． |
| （英） |
In this paper, we propose a design for testability method for test programs of software-based self-test using test program templates. Software-based self-test using templates has a problem of error masking where some faults detected in a test generation for a module are not detected by the test program synthesized from
the test.
The proposed method achieves 100% template level fault efficiency in a sense that the proposed method completely resolves the problem of error masking. Moreover, the proposed method adds only observation points
to the original design, it enables at-speed testing and does not induce delay overhead. |
| キーワード |
（和） |
命令レベル自己テスト / テスト容易化設計 / プロセッサ / 誤りマスク / テストプログラムテンプレート / / / |
| （英） |
software-based self-test / design for testability / processor / error mask / test program template / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 92, ICD2006-48, pp. 49-54, 2006年6月. |
| 資料番号 |
ICD2006-48 |
| 発行日 |
2006-06-01 (ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
|
| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD IPSJ-ARC |
| 開催期間 |
2006-06-08 - 2006-06-09 |
| 開催地（和） |
NEC玉川ルネッサンスシティ |
| 開催地（英） |
|
| テーマ（和） |
集積回路技術とアーキテクチャ技術の協調・融合へ向けた、プロセッサ、並列処理、システムLSIアーキテクチャおよび一般 |
| テーマ（英） |
|
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2006-06-ICD-IPSJ-ARC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Design for Testability of Software-Based Self-Test for Processors |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
命令レベル自己テスト / software-based self-test |
| キーワード(2)（和/英） |
テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(3)（和/英） |
プロセッサ / processor |
| キーワード(4)（和/英） |
誤りマスク / error mask |
| キーワード(5)（和/英） |
テストプログラムテンプレート / test program template |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
中里 昌人 / Masato Nakazato / ナカザト マサト |
| 第1著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ |
| 第2著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第3著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） |
奈良先端科学技術大学院大学 (略称： 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称： NAIST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-06-08 15:30:00 |
| 発表時間 |
30分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
ICD2006-48 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.92 |
| ページ範囲 |
pp.49-54 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-06-01 (ICD) |