講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-06-08 15:30
プロセッサの命令レベル自己テストのためのテスト容易化設計 ○中里昌人・大竹哲史・井上美智子・藤原秀雄(奈良先端大) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-48 |
抄録 |
(和) |
本稿では,テンプレートを利用したテストプログラム生成法から合成された任意のテストプログラム実行時に起こる誤りマスクを回避するプロセッサのテスト容易化設計法を提案する.
テンプレートを利用したテストプログラム生成法では,モジュール単体テスト生成で検出可能な故障が,テストプログラム実行時では検出されない誤りマスクが問題である.
提案手法は,誤りマスクを完全に除去するという意味で,テンプレートレベル故障検出効率100\%を達成可能である.
また,提案手法は,信号線の観測のみで誤りマスクを回避するため,遅延オーバーヘッドがなく実動作速度テストが可能である. |
(英) |
In this paper, we propose a design for testability method for test programs of software-based self-test using test program templates. Software-based self-test using templates has a problem of error masking where some faults detected in a test generation for a module are not detected by the test program synthesized from
the test.
The proposed method achieves 100% template level fault efficiency in a sense that the proposed method completely resolves the problem of error masking. Moreover, the proposed method adds only observation points
to the original design, it enables at-speed testing and does not induce delay overhead. |
キーワード |
(和) |
命令レベル自己テスト / テスト容易化設計 / プロセッサ / 誤りマスク / テストプログラムテンプレート / / / |
(英) |
software-based self-test / design for testability / processor / error mask / test program template / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 92, ICD2006-48, pp. 49-54, 2006年6月. |
資料番号 |
ICD2006-48 |
発行日 |
2006-06-01 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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