| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-07-06 10:40
量子ビット用マルチチップモジュールへのSQUID応用
○宮崎利行（JST）・萬 伸一（NEC）・前澤正明（産総研）・日高睦夫（国際超電導産技研センター）・蔡 兆申（NEC） |
| 抄録 |
（和） |
極低温で論理回路として動作する磁束量子素子は、超伝導量子ビットの読み出しおよび制御に適した素子である。
磁束量子素子は低消費電力(典型的には1~mW以下)であるが、100~mK以下の極低温で動作する超伝導量子ビットと比較するとその発熱は無視できない。
そこで我々は量子ビットと磁束量子素子を別の基板上に作成し、フリップチップボンディングを利用して一枚の大きな基板上にそれぞれを実装するという、マルチチップモジュール方式を開発している。
この方式を利用することで回路設計の自由度が増し、各回路間の干渉を小さくすることが可能になるが、より精密に熱設計を行うためにはモジュール間の熱伝導を精度良く測定する必要がある。
ここでは精密な温度測定を行うために開発中の、dc SQUIDを利用した熱雑音温度計について紹介する。 |
| （英） |
Single-flux-quantum (SFQ) logic circuit operates below 1~K is a natural candidate for the interface between superconducting quantum-bits and room temperature electronics.
We develop a multi-chip module (MCM) system of quantum-bits and SFQ circuit to minimize the interference between modules and to enhance the design flexibility.
Although an SFQ circuit consumes very low power (typically below 1~mW), its thermal interference can be a significant prblem at very low temperature (below 100~mK).
In order to estimate the thermal properties of an MCM system, we are developping a Johnson noise thermometry system with dc SQUIDs. |
| キーワード |
（和） |
量子ビット / マルチチップモジュール / 熱雑音温度計 / 磁束量子素子 / / / / |
| （英） |
Quantum-bits / Multi-chip module / Johnson noise thermometry / Single-flux-quantum logic circuits / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 139, SCE2006-15, pp. 19-22, 2006年7月. |
| 資料番号 |
SCE2006-15 |
| 発行日 |
2006-06-29 (SCE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
|
| 研究会情報 |
| 研究会 |
SCE |
| 開催期間 |
2006-07-06 - 2006-07-06 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
SQUID，一般 |
| テーマ（英） |
SQUID, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SCE |
| 会議コード |
2006-07-SCE |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
量子ビット用マルチチップモジュールへのSQUID応用 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
SQUIDs for multi-chip modules of quantum-bits |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
量子ビット / Quantum-bits |
| キーワード(2)（和/英） |
マルチチップモジュール / Multi-chip module |
| キーワード(3)（和/英） |
熱雑音温度計 / Johnson noise thermometry |
| キーワード(4)（和/英） |
磁束量子素子 / Single-flux-quantum logic circuits |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
宮崎 利行 / Toshiyuki Miyazaki / ミヤザキ トシユキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
科学技術振興機構 (略称： JST)
Japan Science and Technology Agency (略称： JST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
萬 伸一 / Shinichi Yorozu / ヨロズ シンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） |
日本電気 (略称： NEC)
NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
前澤 正明 / Masaaki Maezawa / マエザワ マサアキ |
| 第3著者 所属（和/英） |
産業技術総合研究所 (略称： 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
日高 睦夫 / Mutsuo Hidaka / ヒダカ ムツオ |
| 第4著者 所属（和/英） |
国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター)
International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
蔡 兆申 / Jaw-Shen Tsai / ツァイ ヅァオシェン |
| 第5著者 所属（和/英） |
日本電気 (略称： NEC)
NEC Corporation (略称： NEC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-07-06 10:40:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
SCE |
| 資料番号 |
SCE2006-15 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.139 |
| ページ範囲 |
pp.19-22 |
| ページ数 |
4 |
| 発行日 |
2006-06-29 (SCE) |