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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2006-07-27 10:20 LECCS-I/Oモデルの広帯域化を目的とした3ポートSパラメータ測定によるインピーダンスパラメータ抽出法の検討 ○大崎瑛弘・五百旗頭健吾・豊田啓孝・古賀隆治（岡山大）・和田修己（京大）  EMCJ2006-21 |
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| 抄録 | （和） | 筆者らが提案しているディジタルICのEMCマクロモデル(LECCS-I/O)の広帯域化のため, Sパラメータ測定に基づくインピーダンスパラメータ抽出法について検討した.まず, 従来モデルにおいて電源-グランド間インピーダンスのシミュレーション精度が高周波で低下する原因を調べたところ, 2ポートSパラメータ測定ではIC入力端子に接続された外部回路の影響がモデルのインピーダンスパラメータに現れることが判明した. そこで, IC内部の等価回路と外部回路を分離するためICの入力部を考慮した線形等価回路(LEC)のモデルを構築し,3ポートSパラメータ測定によるパラメータ抽出を検討した. ICの外部負荷や入力端子に接続する回路を変化させた時のインピーダンスシミュレーションを行ったところ, 従来モデルと比較してより高い周波数までモデルのシミュレーション精度が向上した. |
| （英） | This report discusses impedance determination of a linear equivalent circuit (LEC) in an EMC macro model, LECCS I/O. The 2-port LECCS I/O model the authors had proposed based on 2-port measurement by a vector network analyzer (VNA) was found to be affected by an external circuit connected to the input terminals of CMOS gates. To remove the defect, this report investigated a 3-port LECCS I/O modelwith 3-port VNA. The 3-port model includes the input circuit of CMOS gates and the three ports of the model mean the power-supply terminal, the output terminal, and the input terminal to the ground terminal. The proposed 3-port model with 3-port VNA was used for power-ground impedance simulation by changing the impedances of external input and output circuits. As a result, the impedance simulation was in good agreement with measurements higher frequency range compared with the previous 2-port model with 2-port VNA. |
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| キーワード | （和） | 広帯域化 / EMCマクロモデル / LECCS-I/Oモデル / 3ポートSパラメータ測定 / パラメータ抽出法 / 電源-グランド間インピーダンス / / |
| （英） | Broadband / EMC macro-model / LECCS-I/O model / 3-port VNA measurement / Parameter determination / Power-GND impedance / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 182, EMCJ2006-21, pp. 17-22, 2006年7月. | |
| 資料番号 | EMCJ2006-21 | |
| 発行日 | 2006-07-20 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2006-21 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2006-07-27 - 2006-07-27 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 若手研究者発表会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2006-07-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | LECCS-I/Oモデルの広帯域化を目的とした3ポートSパラメータ測定によるインピーダンスパラメータ抽出法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Determination of impedances in LECCS-I/O model by 3-port VNA measurement for higher frequency range |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 広帯域化 / Broadband |
| キーワード(2)（和/英） | EMCマクロモデル / EMC macro-model |
| キーワード(3)（和/英） | LECCS-I/Oモデル / LECCS-I/O model |
| キーワード(4)（和/英） | 3ポートSパラメータ測定 / 3-port VNA measurement |
| キーワード(5)（和/英） | パラメータ抽出法 / Parameter determination |
| キーワード(6)（和/英） | 電源-グランド間インピーダンス / Power-GND impedance |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大崎 瑛弘 / Akihiro Osaki / オオサキ アキヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 岡山大学 (略称： 岡山大) Okayama University (略称： Okayama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 五百旗頭 健吾 / Kengo Iokibe / イオキベ ケンゴ |
| 第2著者 所属（和/英） | 岡山大学 (略称： 岡山大) Okayama University (略称： Okayama Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 豊田 啓孝 / Yoshitaka Toyota / トヨタ ヨシタカ |
| 第3著者 所属（和/英） | 岡山大学 (略称： 岡山大) Okayama University (略称： Okayama Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古賀 隆治 / Ryuji Koga / コガ リュウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 岡山大学 (略称： 岡山大) Okayama University (略称： Okayama Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 修己 / Osami Wada / ワダ オサミ |
| 第5著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2006-07-27 10:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2006-21 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.182 |
| ページ範囲 | pp.17-22 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2006-07-20 (EMCJ) |
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