| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-08-24 16:25
端面スクラッチのある光コネクタの耐久性に関する実験
○長瀬 亮（NTT）・井上正夫（ヒロセ電機）・平 淳司（精工技研）・椎野雅人（古河電工） |
| 抄録 |
（和） |
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| （英） |
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| キーワード |
（和） |
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| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 212, EMD2006-34, pp. 49-53, 2006年8月. |
| 資料番号 |
EMD2006-34 |
| 発行日 |
2006-08-17 (EMD, CPM, OPE, LQE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
EMD CPM LQE OPE |
| 開催期間 |
2006-08-24 - 2006-08-25 |
| 開催地（和） |
千歳アルカディア・プラザ |
| 開催地（英） |
Chitose Arcadia Plaza |
| テーマ（和） |
光部品・電子デバイス実装技術、一般 |
| テーマ（英） |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
EMD |
| 会議コード |
2006-08-EMD-CPM-LQE-OPE |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
端面スクラッチのある光コネクタの耐久性に関する実験 |
| サブタイトル（和） |
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| タイトル（英） |
Durability of Optical Connectors with Scratched End-Face |
| サブタイトル（英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
長瀬 亮 / Ryo Nagase / ナガセ リョウ |
| 第1著者 所属（和/英） |
NTT (略称： NTT)
NTT (略称： NTT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
井上 正夫 / Masao Inoue / イノウエ マサオ |
| 第2著者 所属（和/英） |
ヒロセ電機株式会社 (略称： ヒロセ電機)
Hirose Electric Co., Ltd. (略称： Hirose Electric) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
平 淳司 / Junji Taira / タイラ ジュンジ |
| 第3著者 所属（和/英） |
株式会社精工技研 (略称： 精工技研)
Seikoh Giken Co., Ltd. (略称： Seikoh Giken) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
椎野 雅人 / Masato Shiino / シイノ マサト |
| 第4著者 所属（和/英） |
古河電気工業株式会社 (略称： 古河電工)
Furukawa Electric Co., Ltd. (略称： Furukawa Electric) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 所属（和/英） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-08-24 16:25:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
EMD |
| 資料番号 |
EMD2006-34, CPM2006-64, OPE2006-76, LQE2006-41 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.212(EMD), no.213(CPM), no.214(OPE), no.215(LQE) |
| ページ範囲 |
pp.49-53 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2006-08-17 (EMD, CPM, OPE, LQE) |
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