| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2006-09-26 10:50
ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について
○永久克己・岡垣 健・谷沢元昭・石川清志・土屋 修（ルネサステクノロジ） |
| 抄録 |
（和） |
コンパクトモデルパラメータ抽出を含む新しいワーストモデル生成手法を提案する。本手法によれば、開発早期段階においてコンカレントに物理的に正確なワーストケース予測が可能となる。
詳細なTEG解析とTCADにより、プロセス因子間の相関がワーストケースの予測に重要なインパクトを持つことが明らかとなった。
さらに、統計的コンパクトパラメータ抽出手法を開発し、パラメータ間の相関を考慮した正確なコーナーモデルを生成することが可能となった。 |
| （英） |
A novel methodology is presented to generate the worst-case model including extraction of its compact model parameters. This method enables physically accurate worst-case prediction in the early stage of device development concurrently.
It is found through the intensive TEG analysis and TCAD simulation that corraltions between process factors have a significant impact on the worst-case corner estimation.
A new extraction method of compact model parameters based on error propagation analysis is developed to consider correlations between parameters. |
| キーワード |
（和） |
ばらつき / ワーストケースモデル / TEG / 応答曲面法 / 統計的パラメータ抽出 / / / |
| （英） |
variability / worst-case model / TEG / RSM / statistical parameter extraction / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 256, SDM2006-162, pp. 13-18, 2006年9月. |
| 資料番号 |
SDM2006-162 |
| 発行日 |
2006-09-18 (VLD, SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
SDM VLD |
| 開催期間 |
2006-09-25 - 2006-09-26 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ（英） |
Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SDM |
| 会議コード |
2006-09-SDM-VLD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
ばらつき因子の大域的な同定と統計的ワーストケースモデルの生成方法について |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Global Identification of Variability Factors and Its Application to the Statistical Worst-Case Model Generation |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
ばらつき / variability |
| キーワード(2)（和/英） |
ワーストケースモデル / worst-case model |
| キーワード(3)（和/英） |
TEG / TEG |
| キーワード(4)（和/英） |
応答曲面法 / RSM |
| キーワード(5)（和/英） |
統計的パラメータ抽出 / statistical parameter extraction |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
永久 克己 / Katsumi Eikyu / エイキュウ カツミ |
| 第1著者 所属（和/英） |
（株）ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp. (略称： Renesas) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
岡垣 健 / Takeshi Okagaki / オカガキ タケシ |
| 第2著者 所属（和/英） |
（株）ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp. (略称： Renesas) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
谷沢 元昭 / Motoaki Tanizawa / タニザワ モトアキ |
| 第3著者 所属（和/英） |
（株）ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp. (略称： Renesas) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
石川 清志 / Kiyoshi Ishikawa / イシカワ キヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） |
（株）ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp. (略称： Renesas) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
土屋 修 / Osamu Tsuchiya / ツチヤ オサム |
| 第5著者 所属（和/英） |
（株）ルネサステクノロジ (略称： ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp. (略称： Renesas) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 所属（和/英） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第30著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第34著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第35著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2006-09-26 10:50:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
SDM |
| 資料番号 |
VLD2006-41, SDM2006-162 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.254(VLD), no.256(SDM) |
| ページ範囲 |
pp.13-18 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2006-09-18 (VLD, SDM) |