講演抄録/キーワード |
講演名 |
2006-10-05 16:10
マイクロラマン分光によるAlGaN/GaN HFET高電圧動作時の温度分布解析 ○小坂賢一・藤嶌辰也(立命館大)・井上 薫(素子協)・檜木啓宏(立命館大)・山田朋幸・土屋忠厳・城川潤二郎・神谷慎一(素子協)・鈴木 彰(立命館大/素子協)・荒木 努・名西ヤスシ(立命館大) エレソ技報アーカイブへのリンク:ED2006-159 CPM2006-96 LQE2006-63 |
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文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 269, ED2006-159, pp. 39-43, 2006年10月. |
資料番号 |
ED2006-159 |
発行日 |
2006-09-28 (ED, CPM, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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