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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2006-10-13 15:20 高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ ○竹下達也・田所貴志・伊賀龍三・東盛裕一（NTT）・山本ミツ夫（NEL）・須郷 満（NTT）  OCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100 |
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| 抄録 | （和） | 95℃で1000FITs以下の信頼度をもち、さらに、-20℃から100℃の温度範囲でエラーフリー・2.5Gbps・80km伝送能力を併せ持つアンクルードDFBレーザを実現した。長期信頼性は第二ステージ劣化のt^0.5劣化を抑制することにより実現した。 |
| （英） | We have achieved a DFB laser with high reliability (<1000FITs) at 95°C that is capable of error-free 2.5 Gbps 80 km transmissions at -20 to 100ºC. Long-term stability has been achieved by suppressing the second stage degradation. | |
| キーワード | （和） | 半導体レーザ / 量子井戸レーザ / 故障解析 / 信頼性 / エイジング / / / |
| （英） | Semiconductor lasers / quantum well lasers / failure analysis / reliability / aging / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 106, no. 284, LQE2006-100, pp. 91-95, 2006年10月. | |
| 資料番号 | LQE2006-100 | |
| 発行日 | 2006-10-05 (OCS, OPE, LQE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OCS2006-58 OPE2006-111 LQE2006-100 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE LQE OCS |
| 開催期間 | 2006-10-12 - 2006-10-13 |
| 開催地（和） | 九大 筑紫キャンパス |
| 開催地（英） | Kyusyu Univ. Chikushi Campus |
| テーマ（和） | 超高速伝送・変復調技術、超高速光・電子デバイス技術、広帯域WDMデバイス技術、受光デバイス、一般 |
| テーマ（英） | Ultra-high-speed transmission, modulation technologies, Ultra-high-speed optical / electrical devices, wideband WDM devices, detectors |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | LQE |
| 会議コード | 2006-10-OPE-LQE-OCS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高信頼SIBH構造1.5μmDFBレーザ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Highly reliable 1.5-μm DFB laser with SIBH structure |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / Semiconductor lasers |
| キーワード(2)（和/英） | 量子井戸レーザ / quantum well lasers |
| キーワード(3)（和/英） | 故障解析 / failure analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(5)（和/英） | エイジング / aging |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹下 達也 / Tatsuya Takeshita / タケシタ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 田所 貴志 / Takashi Tadokoro / タドコロ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊賀 龍三 / Ryuzo Iga / イガ リュウゾウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 東盛 裕一 / Yuichi Tohmori / トウモリ ユウイチ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山本 ミツ夫 / Mitsuo Yamamoto / ヤマモト ミツオ |
| 第5著者 所属（和/英） | NTTエレクトロニクス (略称： NEL) NTT Electronics Corporation (略称： NEL) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 須郷 満 / Mitsuru Sugo / スゴウ ミツル |
| 第6著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2006-10-13 15:20:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | LQE |
| 資料番号 | OCS2006-58, OPE2006-111, LQE2006-100 |
| 巻番号（vol） | vol.106 |
| 号番号（no） | no.282(OCS), no.283(OPE), no.284(LQE) |
| ページ範囲 | pp.91-95 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2006-10-05 (OCS, OPE, LQE) |
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