| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-01-18 13:25
SoC埋め込み型プログラマブルロジックePLXの設計アーキテクチャの検討と回路マッピングの評価
○菱田智雄・石橋宏太・木村 峻・奥野直樹・松本光崇（立命館大）・中野裕文・岩男剛宜・奥野義弘・有本和民（ルネサステクノロジ）・泉 知論・藤野 毅（立命館大） |
| 抄録 |
（和） |
近年、少量生産のSoC（システムオンチップ）製造において、マスク費用やレイアウト・検証設計費用などの初期開発費用の増加が大きな問題になっている。FPGAを製品に使用することも行われているが、FPGAはSoCと比較して性能面で劣っており、１チップあたりの製造コストが高いという問題がある。本論文では、SoC内の一部にプログラマブルロジックePLX(embedded Programmable Logic matriX)を配置することを提案する。ePLXを用いることにより、SoC内の回路ブロックで、アプリケーションや顧客に特有の機能は論理を変更することができる。ePLXアーキテクチャはローカルアーキテクチャ（マトリクス状に配置した2入力LUTと、マトリクス端に配置したFF）とそれらを接続する階層的な配線リソースを有している点に特徴がある。加算器、乗算器、DES暗号回路などのサンプル回路をePLX上でマッピングした結果から、LUTの使用率を議論する。また、HDLコードからePLXのコンフィグレーションデータを生成する自動設計フローを紹介し、その一部として開発している自動ツールを用いたローカルアーキテクチャのマッピング結果を報告する。 |
| （英） |
Recently, non-recurring engineering costs (NREs), including cost of mask-sets, and engineering design efforts are critical problems in a small-volume SoC(System on a Chip) manufacturing. FPGAs are used for some electrical products, but FPGAs still have lower performance and higher chip-cost than SoC. In this paper, we propose ePLX(embedded Programmable Logic matriX) that is embedded in SoC. Application-specific or customers-specific logic function in SoC can be changed using ePLX. The ePLX architecture is based on the programmable local-clusters, which are composed of two input Look-Up-Table(LUT) matrix and the D-FlipFlops on the matrix side. The hierarchical wiring resources are located between the local-clusters. We demonstrate the ePLX mapping results for sample circuits such as an adder, a multiplier, and a DES encryption circuit, and discuss LUT utilization efficiency. Lastly, we introduce ePLX design flow from HDL code to ePLX configuration data, and experimental results using the mapping tool which is newly-developed for ePLX. |
| キーワード |
（和） |
プログラマブルデバイス / 細粒度 / LUTマトリクス / / / / / |
| （英） |
programmable device / small grain / LUT matrix / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 458, RECONF2006-71, pp. 37-42, 2007年1月. |
| 資料番号 |
RECONF2006-71 |
| 発行日 |
2007-01-11 (VLD, CPSY, RECONF) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
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