| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-01-18 10:15
電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法
○小笠原泰弘・榎並孝司・橋本昌宜（阪大）・佐藤高史（東工大）・尾上孝雄（阪大） |
| 抄録 |
（和） |
ナノメートル世代のプロセスでは電源電圧の低下と消費電流の増加により, 電源ノイズが深刻な問題となっている. 本稿では電源ノイズによる遅延変動を測定するために90nmプロセスで試作したテストチップの測定結果を報告する. 測定結果と比較するため, トランジスタを可変抵抗と容量に置き換えるモデルを構築し, フルチップシミュレーションを行った. その結果, 実測結果はシミュレーション結果とよく一致することが確認できた. また, 測定結果よりパス遅延が平均電圧降下に依存することを明らかにした. |
| （英） |
Power integrity is an crucial design issue in nano-meter technologies because of lowered supply voltage and current increase. This paper focuses on gate delay variation due to power/ground noise, and demonstrates measurement results in a 90nm technology. For full-chip simulation, a current model with capacitance and variable resistor is developed to accurately model current dependency on voltage drop. Measurement results are well correlated with simulation, and verify that gate delay depends on average voltage drop. |
| キーワード |
（和） |
電源ノイズ / フルチップシミュレーション / トランジスタモデル / 遅延予測 / / / / |
| （英） |
power supply noise / full-chip simulation / transistor model / delay estimation / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 468, ICD2006-174, pp. 19-23, 2007年1月. |
| 資料番号 |
ICD2006-174 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
|
| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD CPM |
| 開催期間 |
2007-01-18 - 2007-01-19 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kika-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般<オーガナイザ：益 一哉（東工大）> |
| テーマ（英） |
LSI system assembly and module/inteface technology, test, general |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2007-01-ICD-CPM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Measurement of Delay Degradation Due to Power Supply Noise and Delay Variation Estimation with Full-Chip Simulation |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
電源ノイズ / power supply noise |
| キーワード(2)（和/英） |
フルチップシミュレーション / full-chip simulation |
| キーワード(3)（和/英） |
トランジスタモデル / transistor model |
| キーワード(4)（和/英） |
遅延予測 / delay estimation |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
小笠原 泰弘 / Yasuhiro Ogasahara / オガサハラ ヤスヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
榎並 孝司 / Takashi Enami / エナミ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第3著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
佐藤 高史 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） |
東京工業大学 (略称： 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Inst. Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ |
| 第5著者 所属（和/英） |
大阪大学 (略称： 阪大)
Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第6著者 所属（和/英） |
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| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-01-18 10:15:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
CPM2006-132, ICD2006-174 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.467(CPM), no.468(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.19-23 |
| ページ数 |
5 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |
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