| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-01-19 13:00
低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について
○塔ノ上義章・温 暁青・梶原誠司（九工大）・宮瀬紘平（JST）・鈴木達也・大和勇太（九工大） |
| 抄録 |
（和） |
スキャンテストにおいて，キャプチャ時のフリップフロップでの論理値の遷移が多く起こると過度のIRドロップを引き起こす可能性があり，それは誤テストとなって歩留まり低下をもたらす．本論文では通常の故障検出のみならず，スキャンテストのキャプチャ時の消費電力を考慮したテスト生成手法を提案する．一般に低消費電力テストではテストパターン数が増加する傾向にあるが，提案手法では少ないテストベクトルの増加で，低消費電力のテスト集合が生成できる．ベンチマーク回路に対する実験により提案手法の有効性を示す． |
| （英） |
High Power dissipation when the response to a test vector is captured by flip-flops in scan testing which may cause excessive IR drop, resulting in significant capture-induced yield loss. This paper addresses this serious problem with a novel test generation method, featuring a unique algorithm that deterministically generates test cubes not only for fault detection but also for capture power reduction. In general, the number of test patterns tends to increase in low power testing, but the new method achieves capture power reduction with less test set inflation. Experimental results show its effectiveness. |
| キーワード |
（和） |
キャプチャ時の低消費電力 / ATPG / X割当 / / / / / |
| （英） |
Low Capture Power / ATPG / X-filling / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 468, ICD2006-190, pp. 109-114, 2007年1月. |
| 資料番号 |
ICD2006-190 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD CPM |
| 開催期間 |
2007-01-18 - 2007-01-19 |
| 開催地（和） |
機械振興会館 |
| 開催地（英） |
Kika-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） |
LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般<オーガナイザ：益 一哉（東工大）> |
| テーマ（英） |
LSI system assembly and module/inteface technology, test, general |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
ICD |
| 会議コード |
2007-01-ICD-CPM |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
低消費電力テストのための制約付テスト生成手法について |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
A Constrained Test Generation Method for Low Power Testing |
| サブタイトル（英） |
|
| キーワード(1)（和/英） |
キャプチャ時の低消費電力 / Low Capture Power |
| キーワード(2)（和/英） |
ATPG / ATPG |
| キーワード(3)（和/英） |
X割当 / X-filling |
| キーワード(4)（和/英） |
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| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
塔ノ上 義章 / Yoshiaki Tounoue / トウノウエ ヨシアキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
九州工業大学 (略称： 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称： K I T) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
温 暁青 / Xiaoqing Wen / オン ギョウセイ |
| 第2著者 所属（和/英） |
九州工業大学 (略称： 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称： K I T) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第3著者 所属（和/英） |
九州工業大学 (略称： 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称： K I T) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第4著者 所属（和/英） |
福岡科学技術振興機構 (略称： JST)
Japan Science and Technology Agency (略称： JST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
鈴木 達也 / Tatsuya Suzuki / スズキ タツヤ |
| 第5著者 所属（和/英） |
九州工業大学 (略称： 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称： K I T) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） |
大和 勇太 / Yuta Yamato / ヤマト ユウタ |
| 第6著者 所属（和/英） |
九州工業大学 (略称： 九工大)
Kyusyu Institute of Technology (略称： K I T) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-01-19 13:00:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
ICD |
| 資料番号 |
CPM2006-148, ICD2006-190 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.467(CPM), no.468(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.109-114 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2007-01-11 (CPM, ICD) |