講演抄録/キーワード |
講演名 |
2007-03-07 17:00
サブ100nmデジタルシグナルインテグリティのためのオンチップモニタ ○坂東要志・野口宏一朗・永田 真(神戸大) エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-207 |
抄録 |
(和) |
サブ100nm CMOS時代を迎えて、大規模・高速デジタルLSIにおけるダイナミックな電源雑音やウェル電位変動に起因したシグナルインテグリティの劣化が顕著になっている。本研究は、サブ100nmデジタルLSI内部の、電源、グラウンド、ウェル、および信号などの実測評価を目的として、多点・多電位かつ広帯域な波形の捕捉を簡易に実現するオンチップ・モニタの回路構成を提案する。提案する回路はソースフォロワ入力段と、その出力電圧を電流値に線形変換するとともにサンプル/ホールド動作する出力段からなり、1.0Vの大振幅(フルスイング)信号に対する実効帯域は1.1GHz、モニタの面積はチャネルあたり30 $\mu$m $\times$ 120 $\mu$mである。また、出力段からのサンプル値を電流出力する構成により、単一の電流出力配線・出力パッドを複数のモニタ回路で共有でき、多点・多電位モニタアレイの塔載コストをチップ面積やパッド数の面から低減していることから、サブ100nm CMOS時代のシグナルインテグリティ解析・検証に、実務的に役立つ回路IPである。 |
(英) |
A compact on-chip signal monitor circuit uses voltage mode sensing by a source follower circuit with small input device geometry, followed by a shared current output bus. A prototype signal monitor circuit demonstrated a 1.1-GHz effective bandwidth for 1.0-V full-swing digital signals in a 90-nm CMOS technology, where the monitor used 2.5-V I/O CMOS transistors and occupied a 30$\mu$m×120$\mu$m silicon area. We also showed that such signal monitor ciucuits can be tailored to sense of power supply, ground, as well as full-swing logic signal wirings, and form an array with a single current output. Therefore, an on-chip multi-channel signal monitor enables multiple-points as well as multiple-voltagedomain waveform acquisition for the purpose of the in-depth study of digital signal integrity. |
キーワード |
(和) |
シグナルインテグリティ / ダイナミック電源雑音 / 遅延変動解析 / オンチップ波形検出技術 / / / / |
(英) |
signal integrity / dynamic power supply noise / delay variation / on-chip monitor / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 550, ICD2006-207, pp. 61-66, 2007年3月. |
資料番号 |
ICD2006-207 |
発行日 |
2007-02-28 (VLD, ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2006-207 |
研究会情報 |
研究会 |
ICD VLD |
開催期間 |
2007-03-07 - 2007-03-09 |
開催地(和) |
メルパルク沖縄 |
開催地(英) |
Mielparque Okinawa |
テーマ(和) |
システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ:小林 和淑(京都大学)> |
テーマ(英) |
System-on-silicon design techniques and related VLSs |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2007-03-ICD-VLD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
サブ100nmデジタルシグナルインテグリティのためのオンチップモニタ |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
On-chip monitoring for sub-100-nm digital signal integrity |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
シグナルインテグリティ / signal integrity |
キーワード(2)(和/英) |
ダイナミック電源雑音 / dynamic power supply noise |
キーワード(3)(和/英) |
遅延変動解析 / delay variation |
キーワード(4)(和/英) |
オンチップ波形検出技術 / on-chip monitor |
キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
坂東 要志 / Yoji Bando / バンドウ ヨウジ |
第1著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
野口 宏一朗 / Koichiro Noguchi / ノグチ コウイチロウ |
第2著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
第3著者 所属(和/英) |
神戸大学 (略称: 神戸大)
Kobe University (略称: Kobe Univ.) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2007-03-07 17:00:00 |
発表時間 |
20分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
VLD2006-116, ICD2006-207 |
巻番号(vol) |
vol.106 |
号番号(no) |
no.547(VLD), no.550(ICD) |
ページ範囲 |
pp.61-66 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2007-02-28 (VLD, ICD) |