| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-03-08 11:10
統計的推定を用いたクロックデスキューに対する一手法
○大谷直毅・橋爪裕子・高島康裕（北九州市大）・中村祐一（NEC） |
| 抄録 |
（和） |
近年のＬＳＩ製造では技術の進歩による微細化が進んでおり，その結果，設計時に想定していた様々な性能値から製造時にずれが生じるいわゆる製造ばらつきが深刻な問題となっている．その対策のひとつとして，製造後に遅延値を調整できる素子(PDE)をクロックツリーに挿入し，クロック到着時刻を調整するデスキュー手法がある．既存のデスキュー手法では，全てのFFのクロック到着時刻を測定し，PDEの遅延量を線形計画法で決定する. しかし，全FFのクロック到着時刻の測定には多大なコストを要し，実際の問題には適用が難しい．本稿では製造ばらつきは正規分布に従うとの仮定の下で, 一部のFFにおけるクロック到着時刻を測定し，その値に基づき残りのFFのクロック到着時刻を推定するデスキュー手法を提案する．実験により，提案手法では，0.6%のFFのクロック到着時刻を測定した結果，全FFを測定したものと同程度の良品率が得られることを示した． |
| （英） |
In deep-submicron technology, process variations can severely affect the performance and the yield of VLSI chips. As a countermeasure to the variations, deskew, which insert Programmable Delay Elements (PDEs) into the clock tree and adjust clock arrival times has been proposed. One of the previous deskew methods measures clock arrival times of all FFs and
determines PDE delays by Linear Programming (LP). However, it is difficult to apply the method to practical problems, since the test cost to measure the clock arrival times of all FFs seems to be too high. In this paper, we propose a novel deskew method in which the arrival clock times of only small amount of FFs are measured and that of the rests are presumed under the assumption that process variation follows Gaussian distribution. Experiments show that our deskew method outputs the rate of the non-defective chips by measuring the arrival time of only 0.6% of FFs to improve as high as that by measuring the arrival time of all FFs. |
| キーワード |
（和） |
デスキュー / Programmable Delay Element (PDE) / 線形計画法 / 正規分布 / / / / |
| （英） |
Deskew / Programmable Delay Element (PDE) / Linear progamming / Gaussian distribution / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 548, VLD2006-126, pp. 43-48, 2007年3月. |
| 資料番号 |
VLD2006-126 |
| 発行日 |
2007-03-01 (VLD, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD VLD |
| 開催期間 |
2007-03-07 - 2007-03-09 |
| 開催地（和） |
メルパルク沖縄 |
| 開催地（英） |
Mielparque Okinawa |
| テーマ（和） |
システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ：小林 和淑(京都大学)> |
| テーマ（英） |
System-on-silicon design techniques and related VLSs |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
VLD |
| 会議コード |
2007-03-ICD-VLD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
統計的推定を用いたクロックデスキューに対する一手法 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
A Clock Deskew Method Using Statisical Presumption |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
デスキュー / Deskew |
| キーワード(2)（和/英） |
Programmable Delay Element (PDE) / Programmable Delay Element (PDE) |
| キーワード(3)（和/英） |
線形計画法 / Linear progamming |
| キーワード(4)（和/英） |
正規分布 / Gaussian distribution |
| キーワード(5)（和/英） |
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| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
大谷 直毅 / Naoki Ootani / オオタニ ナオキ |
| 第1著者 所属（和/英） |
北九州市立大学 (略称： 北九州市大)
The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitayushu) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
橋爪 裕子 / Yuko Hashizume / ハシヅメ ユウコ |
| 第2著者 所属（和/英） |
北九州市立大学 (略称： 北九州市大)
The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitayushu) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
高島 康裕 / Yasuhiro Takashima / タカシマ ヤスヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） |
北九州市立大学 (略称： 北九州市大)
The University of Kitakyushu (略称： Univ. of Kitayushu) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
中村 祐一 / Yuichi Nakamura / ナカムラ ユウイチ |
| 第4著者 所属（和/英） |
日本電気株式会社 (略称： NEC)
NEC (略称： NEC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-03-08 11:10:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
VLD |
| 資料番号 |
VLD2006-126, ICD2006-217 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.548(VLD), no.551(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.43-48 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2007-03-01 (VLD, ICD) |
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