| 講演抄録／キーワード |
| 講演名 |
2007-03-09 16:20
パスベース遅延解析におけるチップ内・チップ間バラツキを考慮した遅延分布計算
○本間克己・新田 泉・澁谷利行（富士通研） |
| 抄録 |
（和） |
統計的遅延解析(SSTA)は遅延バラツキを確率分布として扱うことでバラツキ考慮した回路遅延を計算する方法である。SSTAでは遅延バラツキを、各素子・配線で独立なチップ内バラツキと、各素子・配線に対し共通の変動を与えるチップ間バラツキに分けられる。本論文ではパスベースSSTAで各パスのチップ内、チップ間分布が与えられたとき、チップ間バラツキを考慮してチップ全体の遅延分布計算を行う新しい手法を提案する。提案手法を実チップデータに適用し、従来手法より正確に計算できることを示す。 |
| （英） |
Statistical Timing Analysis(SSTA) is a method that calculates circuit delay statistically with process variations. In SSTA, the delay variations are divided into intra-die and inter die variations. Intra-die variations are independent for each cells and lines in a chip. Inter-chip variations are governed by one variation on a chip. In this paper, we propose a new method of computing whole chip delay distribution considering inter and intra-chip variations in path-based SSTA. In practical LSI data experiments, it is confirmed that the propose method is more accurate than previous methods. |
| キーワード |
（和） |
統計的遅延解析 / チップ内・チップ間バラツキ / パスベース解析 / / / / / |
| （英） |
Statistical Static Timing Analysis / Intra-die variations / Inter-die variations / Path-based Analysis / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 106, no. 549, VLD2006-156, pp. 93-98, 2007年3月. |
| 資料番号 |
VLD2006-156 |
| 発行日 |
2007-03-02 (VLD, ICD) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 |
| PDFダウンロード |
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| 研究会情報 |
| 研究会 |
ICD VLD |
| 開催期間 |
2007-03-07 - 2007-03-09 |
| 開催地（和） |
メルパルク沖縄 |
| 開催地（英） |
Mielparque Okinawa |
| テーマ（和） |
システムオンシリコン設計技術ならびにこれを活用したVLSI <オーガナイザ：小林 和淑(京都大学)> |
| テーマ（英） |
System-on-silicon design techniques and related VLSs |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
VLD |
| 会議コード |
2007-03-ICD-VLD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル（和） |
パスベース遅延解析におけるチップ内・チップ間バラツキを考慮した遅延分布計算 |
| サブタイトル（和） |
|
| タイトル（英） |
Statistical Delay Computation of Path-Based Timing Analysis Considering Inter and Intra-Chip Variations |
| サブタイトル（英） |
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| キーワード(1)（和/英） |
統計的遅延解析 / Statistical Static Timing Analysis |
| キーワード(2)（和/英） |
チップ内・チップ間バラツキ / Intra-die variations |
| キーワード(3)（和/英） |
パスベース解析 / Inter-die variations |
| キーワード(4)（和/英） |
/ Path-based Analysis |
| キーワード(5)（和/英） |
/ |
| キーワード(6)（和/英） |
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| キーワード(7)（和/英） |
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| キーワード(8)（和/英） |
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| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） |
本間 克己 / Katsumi Homma / ホンマ カツミ |
| 第1著者 所属（和/英） |
富士通研究所 (略称： 富士通研)
Fujitsu Laboratries Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） |
新田 泉 / Izumi Nitta / ニッタ イズミ |
| 第2著者 所属（和/英） |
富士通研究所 (略称： 富士通研)
Fujitsu Laboratries Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） |
澁谷 利行 / Toshiyuki Shibuya / |
| 第3著者 所属（和/英） |
富士通研究所 (略称： 富士通研)
Fujitsu Laboratries Ltd. (略称： Fujitsu Labs.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 第36著者 氏名（和/英/ヨミ） |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-03-09 16:20:00 |
| 発表時間 |
20分 |
| 申込先研究会 |
VLD |
| 資料番号 |
VLD2006-156, ICD2006-247 |
| 巻番号（vol） |
vol.106 |
| 号番号（no） |
no.549(VLD), no.552(ICD) |
| ページ範囲 |
pp.93-98 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2007-03-02 (VLD, ICD) |
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