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講演抄録/キーワード
講演名 2007-09-14 13:10
[招待講演]故障診断における欠陥モデルの動向 ~ チュートリアル ~
佐藤康夫日立R2007-32
抄録 (和) LSI故障診断における故障モデルの動向を中心に最近の診断技術を紹介する.故障診断は,ATEにおけるテスト結果を最もよく説明できる故障候補位置と故障モデルを指摘する.従って,実際の欠陥が引き起こす故障動作をより良く反映する故障モデルが望ましい半面,診断プログラムの現実的な処理効率も求められる.本論文では,ブリッジ故障,オープン故障,およびセル内故障に関する故障モデル化の動向を中心に解説する. 
(英) This paper addresses the latest trend of defect modeling for LSI diagnosis. Diagnosis methodology finds the suspicious nodes and fault models that mostly match to the faulty response of ATE. Therefore, we need fault models that explain the faulty behavior of real defects well. The reasonable efficiency of diagnosis problem is also required. The paper mainly focuses on bridging fault, open fault, and cell fault.
キーワード (和) 故障診断 / 故障モデル / ブリッジ故障 / オープン故障 / セル内故障 / / /  
(英) diagnosis / fault model / bridging fault / open fault / cell fault / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 213, R2007-32, pp. 17-22, 2007年9月.
資料番号 R2007-32 
発行日 2007-09-07 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2007-32

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2007-09-14 - 2007-09-14 
開催地(和) 高知工科大学 
開催地(英) Kochi Univ. of Technology 
テーマ(和) LSIの評価・診断・解析及び、品質 
テーマ(英) For LSI, evaluation, fault diagnosis, physical analysis and quality 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2007-09-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 故障診断における欠陥モデルの動向 
サブタイトル(和) チュートリアル 
タイトル(英) The Latest Trend of Defect Modeling in LSI Diagnosis 
サブタイトル(英) Tutorial 
キーワード(1)(和/英) 故障診断 / diagnosis  
キーワード(2)(和/英) 故障モデル / fault model  
キーワード(3)(和/英) ブリッジ故障 / bridging fault  
キーワード(4)(和/英) オープン故障 / open fault  
キーワード(5)(和/英) セル内故障 / cell fault  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ
第1著者 所属(和/英) 日立製作所 (略称: 日立)
Hitachi, Ltd. (略称: Hitachi)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-09-14 13:10:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2007-32 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.213 
ページ範囲 pp.17-22 
ページ数
発行日 2007-09-07 (R) 


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