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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-26 14:15
アルカンチオールSAM上における金属内包フラーレンEr@C82のSTM/STSの吸着場所依存性
河野馨士朗小林昇洋岩本全央安武裕輔東工大)・大窪清吾岡崎俊也産総研)・真島 豊東工大OME2007-44
抄録 (和) 金属内包フラーレンを用いた単一分子配向スイッチの液体窒素温度動作に向けて、極低温超高真空走査型トンネル顕微鏡(LT-UHV-STM)を用いて、アルカンチオール自己組織化単分子膜(SAM)上の金属内包フラーレンEr@C82におけるSTM/STS(走査型トンネル分光)測定の吸着場所依存性の検討を行った。dI/dV波形から、オクタンチオールSAMのStep edgeおよびTerras上では同じ位置にLUMOおよびHOMOのピークが観察され、同じギャップ幅になったのに対し、Etch pit上ではギャップ幅は広く、Boundary上では狭く観察された。エネルギーダイアグラムからStep edgeおよびTerras上におけるEr@C82のHOMO-LUMOギャップは0.5 eVと見積もられ、フェルミ準位はHOMOから0.1 eV高い位置にあることがわかった。 
(英) We report adsorption place dependence of endohedral metallofullerene Er@C82 on alkanethiol self-assembled monolayer (SAM) by scanning tunneling microscopy (STM) and scanning tunneling spectroscopy (STS) to realize liquid N2 temperature operation of single molecular orientation switch of the endohedral metallofullerene. From dI/dV curves, same peak position and gap width were observed on Er@C82 on step edge and terras of octanethiol SAM, but on etch pit or boundary, gap width was wider and narrower, respectively. On the basis of the energy diagram, we have evaluated the HOMO-LUMO gap of Er@C82 as 0.5 eV on step edge and terras, and the Fermi level found to be located on 0.1 eV above the HOMO level.
キーワード (和) 金属内包フラーレン / アルカンチオールSAM / HOMO-LUMOギャップ / 分子ナノエレクトロニクス / / / /  
(英) Endohedral Metallofullerene / Alkanethiol SAM / HOMO-LUMO gap / Molecular Nanoelectronics / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 292, OME2007-44, pp. 7-12, 2007年10月.
資料番号 OME2007-44 
発行日 2007-10-19 (OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OME2007-44

研究会情報
研究会 OME  
開催期間 2007-10-26 - 2007-10-26 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 自己組織化技術、有機材料一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OME 
会議コード 2007-10-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) アルカンチオールSAM上における金属内包フラーレンEr@C82のSTM/STSの吸着場所依存性 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Adsorption Place Dependence of STM/STS in Endohedral Metallofullerene Er@C82 Molecule on Alkanethiol SAM 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 金属内包フラーレン / Endohedral Metallofullerene  
キーワード(2)(和/英) アルカンチオールSAM / Alkanethiol SAM  
キーワード(3)(和/英) HOMO-LUMOギャップ / HOMO-LUMO gap  
キーワード(4)(和/英) 分子ナノエレクトロニクス / Molecular Nanoelectronics  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 河野 馨士朗 / Keijiro Kono / コウノ ケイジロウ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 小林 昇洋 / Norihiro Kobayashi / コバヤシ ノリヒロ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩本 全央 / Masachika Iwamoto / イワモト マサチカ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 安武 裕輔 / Yuhsuke Yasutake / ヤスタケ ユウスケ
第4著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 大窪 清吾 / Shingo Okubo / オオクボ シンゴ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡崎 俊也 / Toshiya Okazaki / オカザキ トシヤ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) 真島 豊 / Yutaka Majima / マジマ ユタカ
第7著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-10-26 14:15:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 OME 
資料番号 OME2007-44 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.292 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2007-10-19 (OME) 


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