| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2007-10-31 15:50
微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリングの動向 ○増田弘生・黄田 剛・大川眞一(ルネサステクノロジ) VLD2007-69 SDM2007-213 |
| 抄録 |
(和) |
微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング遅延のチップ内ばらつきをもたらし、設計を難しいものにする。他方、ミックストシグナルLSIではアナログ回路が混載されており、ミスマッチ特性がデジタル回路以上に問題になることが予想される。本論文ではアナログ回路におけるミスマッチ増大の影響と、従来適用されてきたミスマッチ・キャンセレーション回路技術の動向を整理し、更なる微細CMOS化・低電圧化におけるアナログ回路の課題を検討する。 |
| (英) |
In sub-100-nm device, mismatch characteristics of threshold voltage and drain current have been degraded. This phenomenon causes variation of timing delay in digital SOC design. On the other hand, mixed signal LSI with analog circuits is expected to suffer from the mismatch-effects much compared with digital ones. This paper summarizes analog CMOS mismatch modeling activities and mismatch cancellation tequnique. We also report problems on mismatch design in future scaled low-voltage analog CMOS circuits. |
| キーワード |
(和) |
アナログCMOS回路 / ミスマッチ / シミュレーション / モデリング / / / / |
| (英) |
Analog CMOS / Mismatch / Modeling / Trends / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 298, SDM2007-213, pp. 47-54, 2007年10月. |
| 資料番号 |
SDM2007-213 |
| 発行日 |
2007-10-24 (VLD, SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
VLD2007-69 SDM2007-213 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
SDM VLD |
| 開催期間 |
2007-10-30 - 2007-10-31 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ(和) |
プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 |
| テーマ(英) |
Process, Device, Circuit Simulation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SDM |
| 会議コード |
2007-10-SDM-VLD |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリングの動向 |
| サブタイトル(和) |
|
| タイトル(英) |
Technical Trends of Mismatch Modeling on Analog CMOS Circuit |
| サブタイトル(英) |
|
| キーワード(1)(和/英) |
アナログCMOS回路 / Analog CMOS |
| キーワード(2)(和/英) |
ミスマッチ / Mismatch |
| キーワード(3)(和/英) |
シミュレーション / Modeling |
| キーワード(4)(和/英) |
モデリング / Trends |
| キーワード(5)(和/英) |
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| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
増田 弘生 / Hiroo Masuda / マスダ ヒロオ |
| 第1著者 所属(和/英) |
(株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
黄田 剛 / Takeshi Kida / キダ タケシ |
| 第2著者 所属(和/英) |
(株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
大川 眞一 / Shin-ichi Ohkawa / オオカワ シンイチ |
| 第3著者 所属(和/英) |
(株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2007-10-31 15:50:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
SDM |
| 資料番号 |
VLD2007-69, SDM2007-213 |
| 巻番号(vol) |
vol.107 |
| 号番号(no) |
no.296(VLD), no.298(SDM) |
| ページ範囲 |
pp.47-54 |
| ページ数 |
8 |
| 発行日 |
2007-10-24 (VLD, SDM) |
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