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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-31 15:50
微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリングの動向
増田弘生黄田 剛大川眞一ルネサステクノロジVLD2007-69 SDM2007-213
抄録 (和) 微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング遅延のチップ内ばらつきをもたらし、設計を難しいものにする。他方、ミックストシグナルLSIではアナログ回路が混載されており、ミスマッチ特性がデジタル回路以上に問題になることが予想される。本論文ではアナログ回路におけるミスマッチ増大の影響と、従来適用されてきたミスマッチ・キャンセレーション回路技術の動向を整理し、更なる微細CMOS化・低電圧化におけるアナログ回路の課題を検討する。 
(英) In sub-100-nm device, mismatch characteristics of threshold voltage and drain current have been degraded. This phenomenon causes variation of timing delay in digital SOC design. On the other hand, mixed signal LSI with analog circuits is expected to suffer from the mismatch-effects much compared with digital ones. This paper summarizes analog CMOS mismatch modeling activities and mismatch cancellation tequnique. We also report problems on mismatch design in future scaled low-voltage analog CMOS circuits.
キーワード (和) アナログCMOS回路 / ミスマッチ / シミュレーション / モデリング / / / /  
(英) Analog CMOS / Mismatch / Modeling / Trends / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 298, SDM2007-213, pp. 47-54, 2007年10月.
資料番号 SDM2007-213 
発行日 2007-10-24 (VLD, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2007-69 SDM2007-213

研究会情報
研究会 SDM VLD  
開催期間 2007-10-30 - 2007-10-31 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit Simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2007-10-SDM-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微細CMOSアナログ回路のミスマッチモデリングの動向 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Technical Trends of Mismatch Modeling on Analog CMOS Circuit 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アナログCMOS回路 / Analog CMOS  
キーワード(2)(和/英) ミスマッチ / Mismatch  
キーワード(3)(和/英) シミュレーション / Modeling  
キーワード(4)(和/英) モデリング / Trends  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 弘生 / Hiroo Masuda / マスダ ヒロオ
第1著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 黄田 剛 / Takeshi Kida / キダ タケシ
第2著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大川 眞一 / Shin-ichi Ohkawa / オオカワ シンイチ
第3著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
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講演者 第1著者 
発表日時 2007-10-31 15:50:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 VLD2007-69, SDM2007-213 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.296(VLD), no.298(SDM) 
ページ範囲 pp.47-54 
ページ数
発行日 2007-10-24 (VLD, SDM) 


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