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講演抄録/キーワード
講演名 2007-10-31 15:00
微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル
黄田 剛・○大川眞一増田弘生ルネサステクノロジVLD2007-67 SDM2007-211
抄録 (和) 微細デバイスではCMOSデバイスのしきい電圧・ドレイン電流のミスマッチ特性が劣化する。これは、デジタル回路ではタイミング遅延のチップ内ばらつきをもたらし、設計を難しいものにする。他方、ミックストシグナルLSIではアナログ回路が混載されており、ミスマッチ特性がデジタル回路以上に問題になることが予想される。本論文ではアナログ回路特性を決める小信号パラメータgm、gdsを簡潔に表現する簡易MOSモデルの検討を行った。開発した簡易モデルは、65nm-150nmの広範囲な測定データで検証を行い妥当な小信号パラメータ精度が保障できることを確かめた。本モデリングは筆者らが報告してきたアナログ回路特性のミスマッチモデリングの精度をさらに向上するために必須の技術である。 
(英) In sub-100-nm device, mismatch characteristics of threshold voltage and drain current have been degraded. This phenomenon causes variation of timing delay in digital SOC design. On the other hand, mixed signal LSI with analog circuits is expected to suffer from the mismatch-effects much compared with digital ones. This paper provides a simple expression of gm and gds for scaled CMOS, as well as their variation model. Experiments with 65-150nm CMOSs show a good agreement with new model and its variation form. This work is one of the basic characterization to proceed our mismatch modeling on analog circuit performance reported earlier.
キーワード (和) アナログCMOS回路 / ミスマッチ / シミュレーション / 簡易MOSモデル / / / /  
(英) Analog CMOS / Mismatch / Simulation and Modeling / MOS model / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 107, no. 298, SDM2007-211, pp. 35-39, 2007年10月.
資料番号 SDM2007-211 
発行日 2007-10-24 (VLD, SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2007-67 SDM2007-211

研究会情報
研究会 SDM VLD  
開催期間 2007-10-30 - 2007-10-31 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) プロセス・デバイス・回路シミュレーションおよび一般 
テーマ(英) Process, Device, Circuit Simulation, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2007-10-SDM-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 微細CMOSアナログ小信号パラメータの簡易モデル 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Scaled CMOS Modeling on Analog Small Signal parameters 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) アナログCMOS回路 / Analog CMOS  
キーワード(2)(和/英) ミスマッチ / Mismatch  
キーワード(3)(和/英) シミュレーション / Simulation and Modeling  
キーワード(4)(和/英) 簡易MOSモデル / MOS model  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 黄田 剛 / Takeshi Kida / キダ タケシ
第1著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大川 眞一 / Shin-ichi Ohkawa / オオカワ シンイチ
第2著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 増田 弘生 / Hiroo Masuda / マスダ ヒロオ
第3著者 所属(和/英) (株)ルネサステクノロジ (略称: ルネサステクノロジ)
Renesas Technology Corp (略称: Renesas)
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講演者 第2著者 
発表日時 2007-10-31 15:00:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 VLD2007-67, SDM2007-211 
巻番号(vol) vol.107 
号番号(no) no.296(VLD), no.298(SDM) 
ページ範囲 pp.35-39 
ページ数
発行日 2007-10-24 (VLD, SDM) 


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