| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2007-11-01 10:50
高信頼ガードリングフリー・プレーナ型InAlAsアバランシェ・フォトダイオード ○石村栄太郎・柳生栄治・中路雅晴・庵原 晋・吉新喜市・青柳利隆・徳田安紀・石川高英(三菱電機) OCS2007-43 OPE2007-98 LQE2007-84 |
| 抄録 |
(和) |
最表面のPN接合に印加される電圧が低いという特徴を持つ10Gbps用ガードリングフリー・プレーナ型InAlAsアバランシェ・フォトダイオードにおいて、最表面のpn接合の劣化なしに、200℃-8000時間以上という高い信頼性が実現できた。 |
| (英) |
he InAlAs avalanche photodiode with a guardring-free structure that reduces the bias voltage of the pn-junction of top surface exhibits a record high reliability of over 8000 hours at a high temperature of 200 oC without any degradation mode on the surfaced pn junction. |
| キーワード |
(和) |
APD / アバランシェ・フォトダイオード / 信頼性 / 10Gbps / / / / |
| (英) |
APD / avalanche photodiode / reliability / 10Gbps / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 107, no. 302, LQE2007-84, pp. 19-22, 2007年11月. |
| 資料番号 |
LQE2007-84 |
| 発行日 |
2007-10-25 (OCS, OPE, LQE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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