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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-01-16 15:35 ランタイムパワーゲーティングを適用したMIPS R3000プロセッサの実装設計と評価 ○白井利明・香嶋俊裕・武田清大・中田光貴・宇佐美公良（芝浦工大）・長谷川揚平・関 直臣・天野英晴（慶大）  VLD2007-112 CPSY2007-55 RECONF2007-58 |
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| 抄録 | （和） | 時間的、空間的に細かい粒度で電源遮断を行い、回路のリーク電力を低減するランタイムパワーゲーティング（RTPG）がある。４つの演算器（ALU,SHIFT,MULT,DIV）と例外処理コプロセッサにRTPGを適用したMIPS R3000 プロセッサの実装設計をASPLA90nmプロセスにて行った。また、シミュレーション解析による各種性能を評価した。各ユニットの電力低減効果の損益分岐点は高温時で2～32クロックサイクルとなった。RTPG適用によるALUの遅延時間の増大は1.16～1.42倍であった。各ユニットのウェイクアップ時間は5ns以内であった。 |
| （英） | Run Time Power Gating (RTPG) is a technology that reduces leakage power in a temporally/spatially fine-grained manner. This paper describes a physical design to apply RTPG to ALU, SHIFT, MULT, DIV, exception handling Coprocessor in a MIPS R3000 processor. Simulation results show that break even point to gain in power savings is 2-32 clock cycles at high temperature in 90nm technology. Delay time of ALU is increased by 16-42% by applying RTPG. Wakeup times of power-gated units are 5ns or less. | |
| キーワード | （和） | MTCMOS回路 / パワーゲーティング / リーク電力 / 消費電力 / / / / |
| （英） | MTCMOS circuits / Power Gating / Leakage Power / Power Dissipation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 107, no. 414, VLD2007-112, pp. 43-48, 2008年1月. | |
| 資料番号 | VLD2007-112 | |
| 発行日 | 2008-01-09 (VLD, CPSY, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2007-112 CPSY2007-55 RECONF2007-58 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | RECONF CPSY VLD IPSJ-SLDM |
| 開催期間 | 2008-01-16 - 2008-01-17 |
| 開催地（和） | 慶應義塾大学日吉キャンパス |
| 開催地（英） | Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2008-01-RECONF-CPSY-VLD-IPSJ-SLDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ランタイムパワーゲーティングを適用したMIPS R3000プロセッサの実装設計と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Physical design and Evaluation of MIPS R3000 processor applying Run Time Power Gating |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | MTCMOS回路 / MTCMOS circuits |
| キーワード(2)（和/英） | パワーゲーティング / Power Gating |
| キーワード(3)（和/英） | リーク電力 / Leakage Power |
| キーワード(4)（和/英） | 消費電力 / Power Dissipation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 白井 利明 / Toshiaki Shirai / シライ トシアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Techology (略称： S.I.T.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 香嶋 俊裕 / Toshihiro Kashima / カシマ トシヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Techology (略称： S.I.T.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 武田 清大 / Seidai Takeda / タケダ セイダイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Techology (略称： S.I.T.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中田 光貴 / Mitsutaka Nakata / ナカタ ミツタカ |
| 第4著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Techology (略称： S.I.T.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宇佐美 公良 / Kimiyoshi Usami / ウサミ キミヨシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Techology (略称： S.I.T.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 揚平 / Yohei Hasegawa / ハセガワ ヨウヘイ |
| 第6著者 所属（和/英） | 慶応大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関 直臣 / Naomi Seki / セキ ナオミ |
| 第7著者 所属（和/英） | 慶応大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 天野 英晴 / Hideharu Amano / アマノ ヒデハル |
| 第8著者 所属（和/英） | 慶応大学 (略称： 慶大) Keio University (略称： Keio Univ.) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-01-16 15:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2007-112, CPSY2007-55, RECONF2007-58 |
| 巻番号（vol） | vol.107 |
| 号番号（no） | no.414(VLD), no.416(CPSY), no.418(RECONF) |
| ページ範囲 | pp.43-48 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-01-09 (VLD, CPSY, RECONF) |
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