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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2008-04-18 14:05 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析 ○竹下達也・伊賀龍三・須郷 満・近藤康洋（NTT）  R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 |
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| 抄録 | （和） | 光励起電流測定法を用い、高温におけるInGaAsP-DFBレーザの劣化姿態が研究された。Ru添加InP SIBHを導入したDFBレーザは85℃の高温で長期安定動作することが確認された。OBIC測定法によって、SCH層の劣化は活性層の劣化に比べ大きいことがわかった。レーザの劣化機構は断面垂直方向の拡散によるものであると傍証される。 |
| （英） | We investigated the degradation behavior of InGaAsP distributed feedback lasers (DFBs) at high temperature by employing the optical-beam-induced current (OBIC) measurement technique. The DFB lasers with Ru-doped semi-insulating buried heterostructure operated very stably at an ambient temperature of 85℃. It is found that there is more degradation in the SCH layer than in the active layer. We presume that the degradation mechanism is governed by diffused defects with a vertical direction in the crystal plane. | |
| キーワード | （和） | 半導体レーザ / 量子井戸レーザ / 故障解析 / 信頼性 / エイジング / / / |
| （英） | semiconductor lasers / quantum well lasers / failure analysis / reliability / aging / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 108, no. 7, R2008-3, pp. 11-16, 2008年4月. | |
| 資料番号 | R2008-3 | |
| 発行日 | 2008-04-11 (R, CPM, OPE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2008-3 CPM2008-3 OPE2008-3 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OPE CPM R |
| 開催期間 | 2008-04-18 - 2008-04-18 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 光部品の実装・信頼性、一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2008-04-OPE-CPM-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 光励起電流モニタを使ったRu添加SIBH-InGaAsP-DFBレーザの摩耗劣化の解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis of Wear-Out Degradation of a Ru-doped SIBH InGaAsP DFB laser Using an Optical-Beam-Induced Current Monitor |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / semiconductor lasers |
| キーワード(2)（和/英） | 量子井戸レーザ / quantum well lasers |
| キーワード(3)（和/英） | 故障解析 / failure analysis |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(5)（和/英） | エイジング / aging |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 竹下 達也 / Tatsuya Takeshita / タケシタ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊賀 龍三 / Ryuzo Iga / イガ リュウゾウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 須郷 満 / Mitsuru Sugo / スゴウ ミツル |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 近藤 康洋 / Yasuhiro Kondo / コンドウ ヤスヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社 (略称： NTT) NTT Corporation (略称： NTT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2008-04-18 14:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2008-3, CPM2008-3, OPE2008-3 |
| 巻番号（vol） | vol.108 |
| 号番号（no） | no.7(R), no.8(CPM), no.9(OPE) |
| ページ範囲 | pp.11-16 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2008-04-11 (R, CPM, OPE) |
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